钢轨探伤工成局工务教材2课件.ppt

影响定位精度的因素 1．仪器的影响 如信噪比和分辨力的差异，影响到小缺陷、近表面缺陷的检出能力 2．探头的影响 （1）声束偏离 （2）探头双峰 （3）斜楔磨损 3．工件的影响 （1）工件表面粗糙度 影响定位精度的因素 （2）工件材质 （3）工件表面形状 （4）工件边界 （5）工件温度 （6）工件中缺陷情况 4．操作人员的影响 （1）仪器时基线比例调节 （2）入射点、。 （3）定位方法不当横波周向检测圆筒形工件时，缺陷定位与平板不同，若仍按平板工件处理，那么定位误差将会增加。 影响定量精度的因素 影响缺陷回波幅度的因素 序号 项目 影 响 因 素 1 仪器 发射功率、频率、放大系数、抑制条件、衰减器指标、补偿、盲区、垂直线性、分辨力和灵敏度等。 2 探头 探头形式（即纵波、横波、表面波等不同形式）、晶片材料与尺寸、波束方向与扩散角、探头Ｋ值等。 3 耦合剂 耦合剂声阻抗、耦合层厚度、温度及界面反射率等。 4 工件 试件底面形状与粗糙度、底面与探测面的平行度、基体的组织结构（如晶粒粗大件应测定材质的衰减系数）。 5 缺陷 缺陷自身的大小、形状、取向、表面状态及内含物（与基体声特性阻抗的不匹配程度）、缺陷在试件中埋藏深度。 定义阐述后，举例说明，如隔皮拍瓜 衰减原因 概 念 决 定 因 素 扩散衰减 由波束的扩散引起。即随着传播距离的增加，波束截面增大，使单位面积上的能量减少。 波阵面的几何形状，即波形。如平面波不存在扩散衰减，而柱面波和球面波则存在。 传播距离。距离增大，则衰减大。 必须指出，扩散衰减与传播介质无关。 散射衰减 由散射引起的衰减。所谓散射是指波传播时遇到声阻抗不同的异质界面（如粗大晶粒的界面）从而产生反射、折射和波型转换的现象。 材料内部组织。如铸件中的铁素体和石墨颗粒、材质晶粒粗大等都可成为散射源。 入射波波长。若晶粒或缺陷的尺寸与波长相当，则散射特别严重。 异质界面的不平度。表面若不光洁，则散射较大。 吸收衰减 介质质点振动时因克服相互间内摩擦（即粘滞性）造成声能损耗而引起的衰减。这部分损耗被转换成热能向周围传播。 对于固体介质，吸收衰减相对于散射衰减可忽略不计，但对液体介质来说，吸收衰减则是主要的。 衰减的表示方法 表示材质衰减的方法有相对比较法和绝对法两种。 相对比较法通常是在仪器灵敏度相同的情况下，对同厚度不同材料的试件测试底面回波高度，或底面回波次数，或透过波高度。底面回波高，回波次数多或透过波高，则表示材料衰减小。这种方法只能概略地比较在不同材料中超声波的衰减情况，不能定量的表示出衰减的大小。 绝对法则通过测出材料的衰减系数α值来反映超声波在不同介质中的衰减程度。 （1）当工件厚度2N＜d≤200mm时： dB/mm） 式中：m、n——底波反射次数（n＞m）； α——材料的单位衰减系数； Δm－n——示波屏上第m、n次底波波高Bm、Bn的分贝差， d——工件厚度； δ——表面反射损失， 。 （2）工件厚度d＞200mm时，采用多次反射可能超出仪器的测定范围，所以可用底面的第一次和第二次回波的分贝差来计算衰减系数，即：  （ dB/mm） 超声波远场规则反射体的反射规律 （一）各种规则反射体的反射及其反射声压 如前所述，在远场区中，声束轴线上的声压变化随距离的增加呈单调下降，远场中的入射声压Ｐ基本可按球面波的声压变化规律计算： 式中：D——晶片直径； A——晶片面积，如果方晶片，可直接用面积代入，从而简化了运算 远场规则反射体的反射规律 1．大平面（底面）的反射 ： 远场规则反射体的反射规律 2．圆形（平底孔底面）或方形平面的反射 远场规则反射体的反射规律 圆柱面的反射 若圆柱体直径为φ，长度为Ｌ，晶片至反射体距离为Xφ，当φ/λ≥2时，则有两种情况： （1）长横孔 远场规则反射体的反射规律 短横孔 当圆柱体 的长度Ｌ小于声束直径时，反射声压 为 远场规则反射体的反射规律 球形面的反射 球体直径为d，且小于声束直径，球面前沿离晶片距离Xd， 规则反射体的反射声压和形状系数“Ｘ”为各反射