TSMSAtrainingslide(REV)(ok).ppt

0.MSA与ISO/TS16949 第一章 测量系统总指南 1.1引言、目的和术语 1.2测量过程 1.3测量问题 第二章 用于评估测量系统的基本概念 2.1测量系统评定的两个阶段 2.2测量系统研究的准备 2.3结果分析 第三章 对简单测量系统的推荐实施办法 3.1计量型测量系统研究—指南 3.2计数型测量系统的研究 附录1 变差源矩阵 附录2 测量系统分析时机 要求条文 ISO/TS16949 技术规范 7.6.1 为分析当前的各种测量和试验设备系统测量结果的变差，应进行适当的统计研究。此要求应用于控制计划中提及的测量系统。 所有的分析方法及接受准则应与测量系统分析参考手册一致。(如：偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性研究)。如经顾客批准，也可采用其它分析方法及接受准则。 条文解释 对控制计划中列入的测量系统要进行测量系统分析。 分析变差为偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性研究； 测量分析方法及接受准则应与测量系统分析参考手册一致。 经顾客批准，可以采用其它方法及接受准则。 为什么要做MSA PPAP手册中规定： 1）I.2.2.9初始过程研究：为了了解测量误差是如何影响被研究的测量值，供方必须进行测量系统分析。 2）新的或改进的量具、测量和试验设备应参考MSA手册进行变差研究。 A