第四章光电信号检测电路精要.pptVIP

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第四章光电信号检测电路精要.ppt

第4章 光电信号检测电路 主要内容 通常的光电检测电路组成 4.3 光电信号检测电路的动态计算 4.4 光电信号检测电路的噪声 4.4.1 检测电路的噪声等效处理 光辐射检测器中存在的内部噪声主要有热噪声、散粒噪声、半导体中产生复合噪声、温度噪声和闪烁(1/f)噪声。 4.4.1 检测电路的噪声等效处理 1、噪声 3、光电检测电路频率特性的设计 (3)计算输入电路参数 带宽为6MHz的输入电路宜采用电流放大(?)方式,利用前述公式可计算出。 RL为后级放大器的输入阻抗,若取RL为2kΩ,为保证RLRb,取Rb=(10~20)RL,即Rb=10RL=20kΩ。 耦合电容C的值 是由低频截止频率决定的。由fL=102Hz和下式 可计算C值为: 取C=1μF,对于第一级耦合电容可适当增大10倍,取电容值C=10μF。(why?) 3、光电检测电路频率特性的设计 (4)计算输入电路参数 选用二级通用的宽带运算放大器,放大器输入阻抗小于2kΩ,放大器通频带要求为6MHz,这里取为10MHz。得到如图所示的检测电路。 图中输入电路的直流电源为50V,低于2DU1型光电二极管的最大反向电压。并联的500μF电容用以滤除电源波动。为减少C电解电容寄生电感的影响,并联了Cp=200pF的电容。 检测器在光电转换过程中,既存在检测信号电压或信号电流,还伴随着无用的噪声电压或噪声电流。噪声是一种随机过程,其波形和瞬时振幅及相位是无规则变化的,无法精确测量,只能用统计的理论和方法去处理。 系统噪声 外部噪声 内部噪声 包括辐射源随机波动和附加的光调制、光路传输介质的湍流和背景起伏、杂散光的入射及检测系统所受到的电磁干扰 这些噪声可以通过稳定辐射源、遮断杂光、选择偏振面或滤色光片及电气屏蔽、电干扰滤波等加以改善或消除。 是光电检测器件和检测电路等器件固有噪声,是基本物理过程决定的,不可人为消除。 噪声和有用信号同时存在相互混淆,影响信号检测的准确性,限制检测系统的分辨率的提高。光电信号处理过程核心问题之一就是有关噪声干扰的分析以及如何从噪声中提取微弱的信号。在检测电路设计中,需综合噪声估算,确保检测系统必需的信噪比。 在一个检测系统中,检测器产生的噪声对系统性能的影响比前置放大器和其它信号处理部件产生的噪声要大得多。 一般光电检测器件中主要的噪声是热噪声和散粒噪声。下面做简要介绍并讨论等效噪声电路。 利用解析法分析光敏电阻输入电路 按照线性电路规律,依图有: UL 当光通量变化时,光敏电阻变化ΔR,引起负载上输出电流ΔI和输出电压ΔU的变化: 又 所以 即有: 和 光敏电阻的两种工作状态 1)恒流偏置电路 2)恒压偏置电路 当RLR时, UL 负载电流与光敏电阻阻值无关,近似保持常数。表明:输出信号取决于光敏电阻和负载电阻的比值,与偏压成正比。电路信噪比高,适于高灵敏度测量。但偏置电压高达100V以上,这给使用带来不便。通常用晶体管代替负载电阻(降低偏置电压)实现恒流偏置。 选取RLR时,加在光敏电阻上的电压近似为电源电压Ub,与RL无关。 输出信号电压为: 适用于检测器本身噪声较大时。 其中:SΔΦ=ΔG是光敏电阻的电导变化量,是引起信号输出的原因。 上式表示恒压偏置的输出信号与光敏电阻值无关,仅取决于电导的相对变化。 这样,检测电路在更换光敏阻值时对电路初始状态影响不大。 这是该电路的优点。 电桥输入电路(避免可变电阻型器件受环境温度的影响常采用电桥电路) 电桥在无辐射照射时,电桥平衡条件: 输出电压Uo等于0。 电桥在有辐射照射在RT1上时,温度升高引起电阻变化可表示为: 此时电桥失去平衡,有电压输出为: 在弱辐射作用下,ΔRR01+R1,取R1=R2=R和R01=R02=R0,则: 可求得在R=R0时,U0有最大值: 光电检测电路接收交变光信号时,与缓变光信号相比,交变信号有更丰富的频率分量,信号微弱时还需要多级放大等。与检测电路的设计不同,在分析和设计交变光信号检测电路时,需要解决下面的动态计算问题: 1、确定检测电路的动态工作状态,使交变光信号作用下负载上能获得最小非线性失真的电信号输出。 2、使检测电路具有足够的频率响应,以能对复杂的瞬变光信号或周期光信号进行无频率失真的变换和传输。 4.3.1 光电信号输入电路的动态计算 为提供光电检测器件正常的工作条件,首先要在交变光信号输入电路中建立直流工作点。另一方面要考虑后续电路的等效输入阻抗与输入电路直流负载电阻的并联。 下面分别以光电二极管和光电池为例介绍其交流检测电路的动态计算方法。 1) 光电二极管交流检测电路 检测电路 交变光信号输入光照度: 交流信号视电容短路,负载为Rb和RL并联,画交流负载线,通过M点,以便充分利用线性空间。 交流负载线与

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