共源放大器的设计资料.ppt

* * 问题举例 原因分析2: Rf ，Re未正常连接导致异常---VBQ正确，但VEQ不正确； * * * 1. 动态调试：Q点测量与调整 （5）给放大器送入规定的输入信号，如ViPP =28mV，fi = 1kHz的正弦波。 （6）用示波器观察放大器的输出vo。 若vo波形的顶部被压缩，这种现象称为截止失真，说明Q点偏低，应增大基极偏流IBQ，即增大ICQ。 若vO波形的底部被削波，这种现象称为饱和失真，说明Q点偏高，应减小IBQ ，即减小ICQ 。 * * 2. 动态调试：Q点测量与调整 （8）增大输入信号（如ViPP =120mV）， vo无明显失真，或者逐渐增大输入信号时， vo顶部和底部差不多同时开始畸变，说明Q点设置得比较合适。 （7）调节RB1，使放大器的输出vo不失真。 （9）此时移去信号源，分别测量放大器的静态工作点VBQ、VEQ、VCQ，并计算VCEQ 、ICQ。 * * 故障举例2 故障现象：工作点正常，输入信号正常，但输出无信号； * 解决方法：信号循迹法 * * 怎样调到“最大不失真”？ 为了得到最大动态范围，应将静态工作点调在交流负载线的中点。为此在放大器正常工作情况下，逐步增大输入信号的幅度，并同时改变静态工作点，用示波器观察，当输出波形同时出现削底和缩顶现象时，说明静态工作点已调在交流负载线的中点。然后反复调整输入信号，使波形输出幅度最大，且无明显失真 * * * 七、主要性能指标及其测试方法 晶体管放大器的主要性能指标有 电压放大倍数AV 输入电阻Ri 输出电阻Ro 通频带BW＝fH－fL * * * 七、主要性能指标及其测试方法 注意： 各仪器与实验电路的“共地”问题！ * * * 七、主要性能指标及其测试方法 1、电压放大倍数AV 理论计算 在波形不失真的条件下，用示波器测量放大器输入电压与输出电压的值。 实验测试 测出Vi (有效值)或Vim(峰值)及Vip-p（峰-峰值）与Vo(有效值)或Vom(峰值) Vop-p（峰-峰值），则 * * * 七、主要性能指标及其测试方法 2、输入电阻Ri 理论计算 实验测试 串联一个已知电阻R 在输出波形不失真情况下，用晶体管毫伏表或示波器，分别测量出Vi与Vs的值，则 * * * 七、主要性能指标及其测试方法 3、输出电阻RO 理论计算 实验测试 开关S (1)在输出波形不失真情况下，用晶体管毫伏表或示波器， 测量负载开路时的输出电压的值Vo ； (2)接入RL后，测量负载上的电压的值VoL ro为晶体管输出电阻。 * * * 七、主要性能指标及其测试方法 4、频率特性和通频带 放大器的频率特性包括 表示增益的幅度与频率的关系； 表示输出信号与输入信号之间的相位差与频率的关系； 相频特性?(?): 幅频特性A(?): * * * 七、主要性能指标及其测试方法 4、频率特性和通频带 放大器的通频带BW: fH为上限频率，主要受晶体管结电容及电路分布电容的限制； BW = fH – fL fL为下限频率，主要受耦合电容CB、CC及射极旁路电容CE的影响。 * * * BW 的测试方法: 采用“逐点法”测量放大器的幅频特性曲线。 f (Hz) 40 100 500 1k 10k 100k 300k 500k Vop-p (mV) 800 900 1000 1131 1131 1131 1000 800 20lg|AV|(dB) 29 30 31 32 32 32 31 29 注意：维持输入信号的幅值不变（示波器读数为准）且输出波形不失真，如（3DB点附近加测）： BW = fH – fL＝500 k－40≈ 500 k 测试条件：Vi=10 mV (Vip-p= 28 mV) 画出放大器的幅频特性曲线，计算通频带。 * * 八、实验步骤与要求 ① 认真阅读本课题介绍的设计方法与测试技术，写出设计预习报告(其要求见附录二)。 ② 根据已知条件及性能指标要求，确定电路(要求分别采用无负反馈与有负反馈两种放大器电路)及器件(晶体管可以选硅管或锗管)，设置静态工作点，计算电路元件参数。 (以上两步要求在实验前完成) ③用pSpice软件对所设计的电路进行仿真分析，根据分析情况进行参数调整。（仿真项目有：静态工作点、输入/输出瞬态波形、频率响应、Ri、RO）。 * * 八、实验步骤与要求 ④ 在实验面包板上安装电路，布线方法参阅附录一。调节Rp使电路工作在“最大不失真”工作状态。在“最大不失真”工作状态下测量VE 、VB 、Vc ，计算IC 、VCE ，使其满足设计计算值要求。 ⑤ 测试性能指标，调整与修改元件参数值，使其满足性能指标要求，将修改后的元件参数值标在设计的电