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2 、试验结果 3. 试验结论： 从表5中可以看出， Se75、不管管壁厚度大小，其有效检出范围均较大，基本上可以达到80%以上。而X射线在管壁厚度较小时有效检出范围可达70%左右，当管壁较厚时有效检出范围仅达到60%左右，（采用双胶片技术）。 Se75在有效检出范围方面明显大于X射线及X射线的双胶片技术.此外由于Se75在小径管透照中灵敏度能够达到要求且又有较大的厚度宽容度，因此只要透照工艺得当应该说缺陷在底片上显示是比较真实的。 射线专题讲座三 关于Se75射线照相 一、se75射线源的特性 Se75(硒75)原子质量数为75,其原子核中含质子数为34,中子数为41,它是一种人工放射性同位素,由中子俘获反应所得. Se75的半衰期是120.4天,比活度1.45·104Ci/g. Kr常数为2.04R. ㎝2/h.mci.当量为0.24毫克镭/毫居里.Se75的平均能量为0.206MeV.主要能谱线有9根能量分别为0.066、0.097、0.121★ 、0.136★ 、0.199、0.265★、0.280★ 、0.304、0.401(MeV). 表1：最大活度与射源尺寸 射源尺寸(mm) 活度 (Ci) 1.0×1.0 2.5 1.5×1.5 10 2.0×2.0 22 2.5×2.5 45 3.0×3.0 80 二、se75射线源曝光量经验公式 试验表明,包含工件散射线的se75的半价层不是定值,随着透照厚度的增加半价层增大,其值大致从6.02mm增加到9.97mm.在实际工作中透照厚度在10mm以下时,半价层可选7mm;透照厚度在10mm以上时,半价层可选10mm,其精度能满足要求. 采用天津Ⅲ型胶片,底片黑度为2.7-2.9时的曝光公式 t = 0.04 F2 2TA T1/2 A 式中:A— 源活度 Ci T1/2 —半价层厚度 t — 曝光时间 F — 透照焦距 TA —透照厚度 三、se75射线照相试验一 透照厚度的试验: Se75射线源的平均能量为206KeV,相当于200KeV的X射线机,与Ir192相比, Se75更适用于薄壁焊缝透照检测.欧洲标准BS/EN—1997规定的适用范围是:A级10-40mm,B级14-40mm. JB4730(承压类特种设备)无损检测标准规定:AB级10-40mm;B级14-40mm. Se75射线源的最佳透照厚度范围从下面的试验表2中可以得出: 表2: se75透照厚度范围 规格 (MM) 射线源 胶片 片号 增感屏 底片像质指数 特定缺陷影响 清 晰 较 清 晰 模 糊 清 晰 较 清 晰 模 糊 可 见 特 定 缺 陷 5 X 天津Ⅲ型 x-9 0.03 16 ○ 横 裂 Ir192 天津Ⅲ型 13-9 0.1-0.2 12 Se75 天津Ⅲ型 S3-03-9 0.03-0.1 13 ○ 10 X 天津Ⅲ型 x-10 0.03 13 14 ○ 横 裂 Ir192 天津Ⅲ型 13-10 0.1-0.2 11 12 ○ Se75 天津Ⅲ型 S03-10 0.03-0.1 12 13 ○ 20 X 天津Ⅲ型 X12 0.03 11 ○ 裂 纹 Ir192 天津Ⅲ型 13-12 0.1-0.2 11 ○ Se75 天津Ⅲ型 S3-01-12 0.03-0.1 11 ○ 40 X 天津Ⅲ型 X14 0.03 10 ○ 裂 纹 Ir192 天津Ⅲ型 13-14 0.1-0.2 9 ○ Se75 天津Ⅲ型 S3-03-14 0.03-0.1 10 ○ 四、 se75射线照相试验二 1.射线源－胶片－增感屏组合系统灵敏度对比 采用不同种类的射线源，不同型号的胶片以及不同厚度的增感屏对焊缝进行照相，比较钢丝像质计的灵敏度；特定缺陷的检出灵敏度以及影像的清晰度。 （1）射线源. X射线机，2505EG-S2，2.5×2.5MM Ir192, 活度20Ci 3 ×3 MM se75, 活度17Ci 3 ×3 MM 表3:透照试验数据（1） 表3:透照试验数据（2） 表3:透照试验数据（3） 2.试验结果分析 (1)增感屏厚度的对比 观察由Se75射线源＋天津Ⅴ型胶片和Se75射线源＋天津Ⅲ型胶片与不同厚度的增感屏组合所拍摄的底片比较不同厚度的增感屏对底片质量的影响。从表3中可以看出，试验采用了0.03/0.1;0.1/0.2;0.2/0.2mm三种厚度的增感屏，底片观察的结果是增感屏厚度的变化对底片灵敏度和特定缺陷的清晰度影像不明显，意味着三种屏都可以使用。