X射线荧光光谱在离子浓度和镀层厚度测量中应用.docVIP

郑州大学毕业设计（论文） 题 目： X射线荧光光谱在离子浓度和镀层金属厚度 测量中的应用 指导教师： 赵书俊 职称： 教授 学生姓名： 陈梁 学号： 20082250202 专 业： 电子信息科学与技术 院（系）： 物理工程学院 完成时间： 2012年5月 22日 2012 年 5 月 22 日  目录 摘要 1 Abstract 2 第一章 绪论 3 1.1 概 述 3 1.2我国X射线荧光光谱分析发展现状 4 1.3本论文的主要工作简介 5 第二章 X射线荧光光谱法测量原理 7 第三章 XRF测镀层溶液离子浓度 9 3.1 实验部分 9 3.1.1 主要仪器设备 9 3.1.2 载流管材料实验 9 3.1.3 载流装置 9 3.1.4 测量条件 10 3.1.5 标准曲线 10 3.2 结果与讨论 10 3.2.1 准确度 10 3.2.2 精密度 11 3.2.3 讨论 11 第四章 XRF测镀层金属厚度 12 4.1 在镀层膜厚度测量中应用X射线荧光光谱分析的原理 12 4.1.1 发射法 12 4.1.2 吸收法 13 4.1.3