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实验一 尺 寸 测 量
实验1—1 用立式光学计测量塞规
实验目的
了解立式光学计的测量原理。
熟悉用立式光学计测量外径的方法。
加深理解计量器具与测量方法的常用术语。
实验内容
用立式光学计测量塞规。
根据测量结果,按国家标准GB1957——81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。
测量原理及计量器具说明
立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。
图1为立式光学计外形图。
图1
它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2(b)所示。照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。若被测尺寸变动使测杆推动反射镜4绕支点转动某一角度a(图2(a)),则反射光线相对于入射光线偏转2a角度,从而使刻度尺象7产生位移t(图2(c)),它代表被测尺寸的为动量。物镜至刻度尺8之间的距离为物镜焦距f,设b为测杆中心至反射镜支点间的距离,s为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K为:
当a很小时,tg2a=2a, tga=a,
因此:K=
光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm,b=5mm,
故仪器 的总放大倍数n为:
n=12K= =960
由此说明,当测杆移动0.001mm时,在目镜中可见到0.96mm的位移量。
图2
四、测量步骤
1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。所以,测量平面或圆柱表工作时,先用球形测头。测量球面工作时,选用平面形测头。测量小于10mm的圆柱面工件时,选用刀口形测头。
2、按被测塞规的基本尺寸组合量块。
3、调整仪器零位
(1)参看图1,先好量块组后,将下测量面置于工作台11的中央,并使测头10对准上测量面中央。
(2)粗调节:松开支臂紧固螺钉4,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。
(3)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块上测量面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。
(4)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节凸轮7,直至在目镜中观察到刻度尺象与指示接近为止(图3a)。然后拧紧螺钉8。
(5)微调节:转动刻度尺微调螺钉6(图2b),使刻度尺的零线影象与指示线重合(图3b),然后压下测头提升杠杆9数次,使零位稳定。
(6)将测头抬起,取下量块。
4、测量塞规:按实验规定的部位(在三个横截面上的两个相互垂直的径向位置上)进行测量,把测量结果填入实验报告。
5、从国家标准GB1957——81查出塞规的尺寸公差和形状公差,并判断塞规的适用性。
图3
思考题
凸轮7,直至在目镜中观察到刻度尺象与u指示线接近为止(图3a)。然后拧紧螺钉8。
(4)微调节:转动刻度尺微调螺钉6(图2b),使刻度尺的零线影象与u指示线重合(图3b),然后压下测头提升杠杆9数次,使零位稳定。
(5)将测头抬起,取下量块。
4、测量塞规:按实验规定的部位(在三个横截面上的两个相互垂直的径向位置)进行测量,把测量结果填入实验报告。
5、从国家标准GB1957——81查出塞规的尺寸公差和形状公差,并判断塞规的适用性。
思 考 题
1、用立式光学计测量塞规属于什么测量方法?绝对测量与相对测量各有何特点?
2、什么是分度值、刻度间距?它们与放大比的关系如何?
3、仪器工作台与测杆轴线不垂直,对测量结果有何影响?工作台与测杆轴线垂直度如何调节?
4、仪器的测量范围和刻度尺的示值范围有何不同?
实验1—2 用内径百分表或卧式测长仪测量内径
实验目的
熟悉测量内径常用的计量器具和方法。
加深对内尺寸测量特点的了解。
实验内容
用内径百分表测量内径。
用卧式测长仪测量内径。
测量原理及计量器具说明
内径可用内径千分尺直接测量。但对深孔式公差等级较高的孔,则常用内径
百分表式卧式测长仪作比较测量。
内径百分表
国产的内径百分表,常由活动测头工作行程不同的七种规格组成一套,用以测量10——450mm内径,特别适用于测量深孔,其典型结构如图1所示。
图1
内径百分
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