DIN3140_德国工业标准-光学元件公差.docVIP

光学元件公差 ★光学元件公差 本文所有提及的光学公差都涉及到DIN 3140标准，DIN 3140是历经15年的调查研究，并于1958年10月发表的一项德国标准。这些绘图标准主要有以下用途： 在绘图前期可降低产品的拒收。 消除光学图像中不必要的近似公差。 消除检测中的主观判断。 若产品说明界定明确，可减少意外情况发生。 下表提供了典型缺陷的规范。当给出缺陷在允许范围内时，公差编号后附加“-”，如3-。 ★公差规范 编号 缺 陷 解释 1/- 杂质（气泡） 包括气泡、内部杂质等。通过（最多允许数量）×（最大尺寸单位：mm）来判断缺陷等级。 2/- 光学均匀性（纹理） 缺乏光学性能、纹理等一致性。将其分类以便重新检测时无缺陷产生。 i)点光源。 ii) 明亮/黑暗界面。 iii)明亮背景。 3/- 结构误差 表面结构偏离几何结构为结构误差。对照样板比较最大偏离情况（以半径为单位），并根据这个数值分类。 4/- 中心偏差 对于透镜而言，当光学轴和机械轴不在一条直线上时，根据最大偏心距离（mm）或弧度分类。 5/- 表面质量 表面缺陷、刮痕、道子等。通过（表面缺陷允许数量）×（最大尺寸单位：mm）判断缺陷等级。 光学元件公差可以分为两大类，即： i) 材料缺陷。即材料本身引起的缺陷（比如：气泡、条纹）。 ii) 工艺缺陷。这一缺陷取决于工作人员本身的技能，也可能通过拿取