2014材料现代方法复习题--学生2014-12-18-部分答案技术方案.docVIP

材料现代分析复习题 前八单元总结 一、填空题 1、影响透射电镜分辨率的因素主要有：衍射效应和电镜的像差（球差、像散、色差）等。 2、透射电子显微镜的照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。 3、透射电子显微镜的成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。 4、 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 特征谱 X射线和 连续谱X射线。 5、 X射线与物质相互作用可以产生 散射、入射、透射、吸收 6、 经过厚度为 H的物质后，X射线的强度为IH=I0exp(-μH) 。 7、X射线的本质既,也是，具有 波粒二象性。 8、 短波长的X射线称硬X射线，常用于 衍射分析 ；长波长的 X射线称 软X射线，常用于 荧光分析 。 9、 德拜相机有两种，直径分别是 57.3mm 114.6mm。测量θ角时，底片上每毫米对 应 2 o和 1o。 扫描电子显微镜常用的信号是和 。 1、衍射仪的核心是测角仪圆，它由试样台、辐射源和探测器 共同组成。 1、 可以用作 X射线探测器的有等 1、 影响衍射仪实验结果的参数有狭缝宽度、扫描速度和时间常数等。 1、 X 射线物相分析包括 定性分析 和 定量分析 ，而 定性分析 更常用更广泛。 1、 第一类应力导致 X 射线衍射线 峰线偏移（衍射线条位移） ；第二类应力导致衍射线 峰线宽化(线条变宽)；第三类应力导致衍射线衍射强度降低 。倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ，倒易矢量的长度等于对应正空间。 1、X 射线物相定量分析方法有 外标法（单线条法）、内标法 、 K值法、直接比较法 等。TEM 中的透镜有两种，分别是 磁透镜 和 电透镜 。 1、TEM 中的三个可动光栏分别是第二聚光镜光栏位于第二聚光镜焦点上，物镜光栏位于 物镜的背焦面上，物相分析需要确定材料的。 透射电镜主要由和观察记录系统；辅助部分由真空系统、循环冷却系统和控制系统组成。影响X射线衍射强度的因素除了结构因子外，还有角因子、吸收因子、和等。 透射电镜由照明系统、成像系统、、记录系统和电器系统组成。 、TEM 成像系统由物镜、中间镜和投影镜与样品室构成组成。 、TEM 的主要组成部分是照明系统、成像系统和观察记录系统；辅助部分由真空系统、循环冷却系统和控制系统组成。 2、 电磁透镜的像差包括球差、像散、色差。 、电子衍射和 X 射线衍射的不同之处在于电子散射强度大导致摄谱时间短 不同、电子多次衍射导致电子束强度不能被测量 不同，以及电子波长短导致的布拉格角小 不同。 、电子束与固体样品相互作用可以产生背散射电子、二次电子、吸收电子、俄歇电子 、 特征X射线 、 透射电子 、可见光 等物理信号。 、 扫描电子显微镜的放大倍数是显示屏的扫描宽度与样品上的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是亮衬度，而裂纹、凹坑则是暗衬度。 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有:角因素,多重性因素,温度因素、试样对X射线的吸收。 X射线光电子能谱是以单色 X射线 为光源、激发样品中原子 内 层电子，产生光电子发射的能谱。 32、德拜照相法中的底片安装方法有正装法、 和三种。 二、选择题 1.用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是（ B ） A.X 射线透射学；B.X 射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它 2. M 层电子回迁到 K层后，多余的能量放出的特征 X射线称（ B ） A. Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。 3. 当 X射线发生装置是 Cu 靶，滤波片应选（ C ） A． Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。 8．有一倒易矢量为，与它对应的正空间晶面是 (??? ?? ) A ．（210） B．（220） C．（221） D．（110） 4. 当电子把所有能量都转换为 X射线时，该 X射线波长称（ A ） A. 短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线 5.当 X射线将某物质原子的 K层电子打出去后，L 层电子回迁 K层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（ D ） A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C） 9．测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ ）。 A ． 外标法 B．直接比较法 C．内标法 D． K值法。 1．德拜法中有利