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课程介绍 参考资料：雷绍充 等 超大规模集成电路测试，2008电子工业出版社 （VLSI测试方法学与可测性设计 2005 年1月 授课32学时 考核方式：作业20％＋期末考试80％ 1.6 测试经济学 3.良品率 G为通过所有测试的元器件数目 B为未通过部分测试的元器件数目 A、D分别是管芯的面积和缺陷密度 1.6 测试发展趋势 集成电路测试技术 VLSI Testing 西北工业大学明德学院 第一章 概述 5 VLSI TESTING 集成电路发展 – – – – – SSI MSI LSI VLSI ULSI 1.1 测试的意义 VLSI TESTING 6 在六十年代，Gordon E. Moore是仙童半导体公司(Fairchild Semiconductor) 研发部的经理。1965年时，他注意到芯片的部件数每18个月会翻一番。 摩尔定律 1.1 测试的意义 1.1 测试的意义 1.1 测试的意义 1.2 测试基本概念 1.2 测试基本概念 如果测试施加、测试响应的获取，甚至测试生成和测试分析都用专门的设备完成，这样的设备就称自动测试装置(ATE)。 1.2 测试基本概念 1.2 测试基本概念 1.2 测试基本概念 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 1.4 测试的分类 功能测试非常耗时，开支大，是本课程研究的主要内容 1.4 测试的分类 1.5 测试主要环节 1.5 测试主要环节 1.5 测试主要环节 1.5 测试主要环节 1.6 测试经济学 1.6 测试经济学 随着集成电路规模的增加，使得芯片的质量和可靠性需求比以前更加重要。现在集成电路设计中，验证测试占用70%的时间。 测试成为四个环节中费用和难度最大的一个环节，现在的IC开发中，70%的时间用于验证和测试。 * *
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