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第二章 电路测试基础 2.1 验证、模拟和测试 验证：对设计原型的测试，采用EDA工具完成。模拟是当前最常用的设计验证手段，一般采用EDA工具中的模拟器完成。 生产测试：又叫产品测试，当设计的电路进行芯片加工和制成产品之后，进行的测试叫生产测试。生产测试主要有参数测试和功能测试两种方式。参数测试验证的是检查电路的参数是否符合要求，采用诸如电流和电压之类的参数进行测量。功能测试是本课程的研究重点。 2.1 缺陷、失效和故障 缺陷：电路物理结构改变 — 引线的开路、短路等 失效：电路不能正常工作； 故障：缺陷所引起的电路异常操作。故障是缺陷的逻辑表现； 3.1故障类型 3.1.1. 固定故障（stuck-at fault） 固定故障是指电路中某个信号线（输出或输入）的逻辑电平固定不变。固定型故障又有单固定故障(SSA)和多固定故障之分(MSA)。 电路中有且只有一条线存在固定型故障，称为单固定故障 ,它主要反映某一个信号线上的逻辑电平不可控，在系统运行的过程中永远固定在一个电平上。如果该电平固定为高电平，则称为固定1故障（stuck-at-1），记为s-a-1；如果固定为低电平，则称为固定0故障（stuck-at-0），简记s-a-0。 2. 2 桥接故障（bridging fault）模型 当两根或者多根信号线连接在一起而引起电路发生的故障称为桥接故障。桥接故障有明显的规律，即在搭接线处实现线逻辑，正逻辑时实现的是线与功能，负逻辑时实现的是线或。 2.3、晶体管故障(Transistor) 2.4 时滞故障（delay fault）模型 滞故障是一种动态故障，这种故障在低频时工作正常，随着信号频率的升高，元件的延迟时间有可能超过规定的值，从而导致时序配合上的错误，使电路的功能出错，这种故障称为时滞故障。 2.5、冗余故障 要么它是不可激活的，要么是无法检测出来，这种故障 称为冗余故障。这种故障的特点是不影响电路的逻辑功能。 第三章 组合逻辑电路测试生成 测试生成：是对被测电路的给定故障确定测试图形的过程，要解决两个主要问题：一是保证故障在其源处的再现，二是把故障效应传播到电路的某一原始输出，简而言之就是：（故障）源处再现，（效应）输出可观。 测试生成的方法：代数法和算法。 代数法典型例子是异或法、布尔差分和布尔微分。 算法典型例子是D算法。 3.1 异或法 假定n个输入变量(x1,x2,…..xn)的电路： 无故障时正常输出逻辑函数为： f(x1,x2,…..xn ) 有故障a时的输出逻辑函数为： fa(x1,x2,……xn ) 故障定位测试(故障区分） 一电路有a故障的输出函数为： fa(x1,x2,……xn ) 该电路有b故障的输出函数为： fb(x1,x2,……xn ) 得到的测试集即为故障a与b的定位测试矢量； 例：一个两输入与门 基本关系 无故障输出为： 有x1-s-a-1的故障输出为： 有y-s-a-1的故障输出为： 故障侦查测试 x1-s-a-1的侦查测试： 即x1x2 =（01） 时，可侦查出x1 -s-a-1故障； x1x2 =01 时，无故障输出为：f(x1,x2 )=x1 x2=0 有x1 -s-a-1的故障输出为：fx(x1,x2 )=x2=1 二者有差异，可以侦查x1 -s-a-1故障； 故障定位测试（区分故障） 即 x1 x2 =（10，00）时 fx(x1,x2 )=x1 x2=0 fy(x1,x2 )=x1 x2=1 二者可以区分，可故障定位； 3.2 故障表方法 仍以与门为例 正常真值表 x1 s-a-1故障表 y s-a-1故障表 x1 x2 y x1 x2 y x1 x2 y —————— ——————— —————— 0 0 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1