1实验一TTL集成逻辑门的测试与仪器的使用.docVIP

实验一 TTL集成逻辑门的测试与仪器的使用 一、实验目的 1．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数测试方法。 2．掌握TTL器件的使用规则 3．熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法。 4．进一步熟悉实验仪器仪表的使用 二、实验原理 本实验采用4输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑符号及引脚排列如图1(a)、1(b)、1(c)所示。 图1(a) 图1(b) 图1(c) 原电子工业部标准 国家标准（GB） 74LS20引脚排列 （SJ）逻辑符号 逻辑符号 1.与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“l”，全“1”得“0”。） 其逻辑表达式为Y＝ 2.TTL与非门的主要参数 （l）低电平输出电源电流I和高电平输出电源电流I。 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。I是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。I是指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，电源提供器件的电流。通常I＞I，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件最大的功耗为P=VI。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的源电流和总的功耗。I和I测试电路如图2（a）、（b）所示。 [注意]: TTL电路对电源电压要求较严，电源电压V只允许在5v10%的范围内工作，超过5.5v将损坏器件；低于4.5v器件的逻辑功能将不正常。 图 2 TTL与非门静态参数测试电路图 （2）低电平输入电流I与高电平输入电流I I是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中， I相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I小些。 I是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，流入被测输入端的电流值。在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望I小些。由于I较小，难以测量，一般免于测试。 I与I的测试电路如图2（c）、（d）所示。 （3）扇出系数N N是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇出系数，即低电平扇出系数N和高电平扇出系数N。通常I＜I，所以 N＞N，故常以N作为门的扇出系数。 N的测试电路如图3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R,调节，R使灌电流达最大值I(即U增至手册中规定的低电平规范值0.4V),则 N＝ 通常N8 图3 散出系数试测电路 （4）电压传输特性 门的输出电压U随输入电压U而变化的曲线U＝f（U）称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平U、输出低电平U、关门电平U、开门电平U、阀值电平U及抗干扰容限U、U等值。测试电路如图4所示，采用逐点测试法，即调节R，逐点测得U及U，然后绘成曲线。 图4 〈5〉平均传输延迟时间t t是衡量门电路开关速度的参数，它是指输出波形边沿的0.5U至输入波形对应边0.5U点的时间间隔，如图5所示。 （a）传输延迟特性 （b）t的测试电路 图5 平均传输延迟时间的测量 图5（a）中的t为导通延迟时间，t为截止延迟时间平均传输延时时间为 t＝（t＋t） t测试电路如图5（b）所示，由于TTL门电路的延迟时间较小，直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高，故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。其工作原理是：假设电路在接通电源后某一瞬间，电路中的A点为逻辑“1”，经过三级门的延时后，使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过三级门的延时后，A点电平又重新回到逻辑“1”。电路的其它各点电平也跟随变化。说明使A点发生一个周期的振荡，必须经过6级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为 t＝ 三、实验设备与器材 1、数字电路实验箱 2、双踪示波器 3、万用表 4、74LS20×2 5、电位器1K，10K各一个 6、电阻（0.5W）200Ω×1 四、实验内容 在合适的位置选取一个14P插座，并接好线，如图6所示。 1. 验证TTL集成与非门74LS20的