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Mikroskop 显微镜 Lichtmikroskops光学显微镜 eine starke Vergr??erung 高倍率放大倍率目镜物镜转换器聚焦光圈成像光学像差非透明的标本 透射光显微镜一个简单的设计目镜：A），B）的镜头，C），幻灯片，D）冷凝器，E）阶段，F）光镜部件的复合光学显微镜至少两个透镜系统反射光显微镜 von der Seite eingestrahlt (schr?ge Beleuchtung)从侧（斜光）的照射切割和抛光物理分辨率微米电子束 物体表面采样 Die Elektronenkanone电子枪, die die freien Elektronen 自由电子in einer Elektronenquelle 电子源erzeugt und in Richtung einer ringf?rmig um die Strahlachse liegenden Anode阳极 beschleunigt. Elektrisch liegt die Anode auf Erdpotential, die Kathode auf einer negativen Hochspannung高电压, die je nach Mikroskop zwischen wenigen Kilovolt bis zu 3 Megavolt liegt. Diese Spannung zwischen Kathode und Anode bestimmt die Energie der Elektronen. Elektronenlinsen电子透镜 Das Vakuumsystem真空系统, das dafür sorgt, dass die Elektronenquelle 电子源effizienter arbeiten气体分子碰撞 die Flugbahnen de r Elektronen电子的轨迹 ablenken分散 Rasterelektronenmikroskope (REM扫描电子显微镜 einen feinen Elektronenstrahl auf dem Objekt细的电子束 eine hohe Sch?rfentiefe 高的景深钨或六硼化镧晶体（镧）场发射阴极 Abrasterung光栅扫描磁性线圈 auf einen Punkt auf dem Objekt fokussiert. 对象上的一个点被聚焦 Sekund?relektronenkontrast对比二次电子X-射线分析Augerelektronen俄歇电子 bestrahlen einen Objektbereich mit einem feststehenden固定的区域, breiten Elektronenstrahl.非弹性散射的电子 indem ein Teil der vom Objekt ausgehenden Elektronen zur Bilderzeugung Transmissionselektronenmikroskope (TEM) 透射电子显微镜Objektbereiche müssen sehr dünn sein 对象的区域必须是非常薄 Die benutzten Signale sind meist Sekund?relektronen, seltener罕见 Rückstreuelektronen信号大多是二次电子，背散射电检测器菊池线 原子力显微镜极细的针电子探针电子衍射图像化学元素的分布 光栅激光扫描 X射线显微镜超声显微镜或声学显微镜氦离子显微镜聚焦离子束显微镜（FIB） 光子力显微镜 磁共振显微镜扫描SQUID显微镜 中子显微镜 扫描探针显微镜SPM 探针样品 扫描过程逐点扫描值转换成数字图像 Rastertunnelmikroskop (RTM)扫描隧道显微镜 Zwischen der Probe und Spitze, welche einander nicht berühren, wird eine Spannung angelegt und der resultierende Tunnelstrom gemessen.针尖与样品之间不互相接触，施加电压时，测量得到的隧道电流。 Rasterkraftmikroskop原子力显微镜（AFM） Die Sonde wird durch atomare Kr?fte, typischerweise Van-der-Waals-Kr?fte, ausgelenkt. Die Auslenkung ist proportional zur Kraft, welche sich über die Federkon