电磁测量第九章2008.ppt

⒊ 样品的去磁 测量铁磁材料的磁性，要从中性状态（B=0，H=0）开始。 方法：利用磁化线圈给样品加上一个数值逐渐减小，方向不断改变的去磁磁场，使样品内部的B和H经过多次循环不断减弱，直到等于零。 二、样品中的磁场测量 ⒈ 测量样品的磁感应强度 测量样品内部磁感应强度的测量线圈紧贴样品表面密绕在样品的均匀磁化部分。 按冲击法或感应法测出样品的总磁通Φ，在沿截面S均匀磁化的条件下可计算B * 由于测B线圈和样品表面之间可能存在气隙，测得的总磁通中包含气隙磁通Φ 0，此时可按下式修正 式中H0是样品表面的磁场强度，S0是测B线圈的有效面积。 ⒉测量样品的磁场强度 测量方法有两种： 测H的扁平线圈 测H的双层同轴线圈 * (1) 测H的扁平线圈 原理：利用两种介质分界面两侧磁场强度的切向分量向相等 测量线圈的磁链为： 由磁链可得到： 样品内部磁场强度与紧贴其表面 的空气中的磁场强度近似相同 (2) 测H的双层同轴线圈 两层线圈之间磁通 总磁链 * 试样 磁化线圈 磁轭 测磁线圈 利用磁导计测磁场 它是产生强磁场的磁化装置。主要用 来测量矫顽力在几十A/m以上磁性材 料(硅钢、纯铁)在高磁场下的磁参数。 磁轭的截面很大，由高磁导率、高饱和磁感应强度、低剩磁的软铁材料作成将试样紧压磁轭极头间，即可使样品沿长度均匀磁化，忽略磁轭磁阻 l为试样的有效长度 样品内部磁场强度 得： * 三、基本磁化曲线的测量 测量电路组成：分成测量回路、磁化回路和磁通冲击常数测定回路三个部分。 基本磁化曲线： 指样品 从中性状态（H=0，B=0）开始，逐步单调的增加磁场强度时，对应各个不同磁场所测出的一系列闭合磁滞回线的顶点连线。 测量磁滞回线用的辅助电路：虚线连接部分，测量基本磁化曲线时将K2合向“+”的位置就可使这一部分脱开磁化回路不用。 冲击法是测量样品的静态磁特性的经典方法； 结构简单，价格低廉，稳定性好，使用寿命长； 现在仍是国际上公认的磁性材料静态磁特性测试的标准方法。 1. 冲击测量法 * A G A E R4 R3 R2 R1 N0 K6 K5 K4 K3 K2 K1 N l S M A B - - + + I N0：测量线圈 M：互感器 G：冲击电流计 R3、R4：电阻 K5：短路开关 K6 ：阻尼开关 N：线圈 K1、K2、K3：换向开关 A1：电流表 E：直流电源 R2：滑线电阻 磁化回路 磁通冲击常数测定回路 测量回路 冲击法测量基本磁化曲线的电路 * 进行测量前，样品首先要退磁。 3.磁锻炼过程：为使样品达到稳定状态，利用换向开关K1将 磁化电流反复换向，使磁滞回线达到重复闭合(稳定过程)。 冲击法测量基本磁化曲线的步骤 2. 确定最小磁化电流：将R1调到最大阻值，合上K6 ，将K3合“B”， K1与K2合向 “+”接通磁化电路，减小R1使磁化电流I为测量所需要的最小值I1，此时 最小磁场强度值为： * 0 1 0 1 0 1 ) 1 ( 2 m S S H S N C B m a f - - = 由 就可计算出B1 考虑气隙时： 5. 增加磁化电流重复3、4，并联接各顶点即可得到基本磁化曲线。 4.测量：打开阻尼开关K6 ，然后将K1由位置“+”迅速投向位置“-”，同时读取冲击电流计的最大偏转 , * 2. 直流磁滞回线的自动记录装置 超低频 电源 样品 送入X-Y记录仪X通道的取样电阻R上的电压，正于激磁电流，即正比于磁场强度H； 检测线圈的输出电压正比于d?/dt，经积分后得到? 或B，送入记录仪Y通道。 改变电流的幅值，在纪录仪上即可获得静态磁滞回线。 测量 原理： * HT600软磁材料测试仪是由计算机控制主机并接收主机发生的讯号进行数据处理及控制的闭环系统，它能准确地显示磁性材料磁特性轨迹，并打印出测试数据及图形。 电路图如下： 3、磁材料特性测试仪举例 * 定义：指在一定的频率下，在磁感应强度为正弦量时，样品中的磁感应强度的最大值和磁场强度的最大值的关系曲线。 音频电源 A V1 V2 N1 N2 M i 直读指示仪表测量交流磁化曲线 §9-4 铁磁材料动态磁性的测量 动态磁性：铁磁材料的交流磁化曲线、铁损、复数磁导率。 一、交流磁化曲线的测量 可利用指示仪表法测量 原理：在同一励磁状态下，读出平均值电压表V1、V2的值，可得到 Bm~Hm 曲线上的一点。改变励磁电源的输出电压，即可得到一条Bm~Hm曲线。 * 样品加入磁化电流时，在测量线圈N2中产生感应电动势 实际上i是非正弦量，引起波形误差。可在磁