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- 2017-06-09 发布于湖北
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高速CMOS集成电路较高的输出驱动电流使之可能直接驱动某些外接负载。但是有一些器件,如发光二极管、继电器、螺线管等的工作电流可能超过高速CMOS的驱动能力,达到几十毫安以上的水平,这时高速CMOS集成电路与负载之间最采用晶体管接口的方法。在高速CMOS输出信号控制下,由晶体管提供放大的电流(可以达到几百毫安)去驱动负载工作。图2-29列举了高速CMOS与负载接口的几种方法。图2-29(a)表示经过晶体管驱动外接电源的负载,图2-29(b)表示经过晶体管驱动相同电源的负载,而图2-29(c)为同一电源下高速CMOS直接与负载接口。 * 图2-29 高速CMOS与负载接口的方法 * * 由于CMOS电路抗浪涌电压和大电流冲击的能力较TTL电路为低;输入端具有高阻抗;阈值电平与TTL电路不同等特点 基于上述几点原因,在应用CMOS集成电路时,电路设计应注意以下几个方面的问题: 输入端和输出端保护;电源;线路板设计;抗干扰与抗静电;温度;与TTL电路的接口等 这些问题有的是基于安全原因,有的是基于信号处理或二者兼而有之。 * 输入端与输出端保护 输入端处理:(防浪涌与抗干扰) 由于CMOS电路输入阻抗高,当输入端处于悬空状态时,易受各种干扰信号的影响使其输出端的逻辑状态不稳定,甚至会导致可控硅效应的产生。因此,对不使用的输入端要通过电阻(数十K)接地或接电源。 从其他电子装置向CMO
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