光学薄膜检测技术资料讲解.pptVIP

* 光学薄膜检测技术 综述 测试技术是一门学科 测试技术的重要性 只要能测的出来的特性，就一定能制备的出来 元件制备出来了，但不知性能怎样 性能测出来了，但不知测的准不准 光学薄膜测试技术的发展 随着薄膜制备技术的发展与应用技术的发展而发展，不断更新不断进步 反射 透射 散射 吸收 折射率 厚度 应力 附着力 组分 结构 光学薄膜检测技术 光学特性 光学参数 非光学特性 薄膜厚度和折射率的测量 厚度测量 台阶仪 干涉法 具有台阶样品的制备 胶带纸 刀片 对于干涉法，在台阶样品基板上全部镀上不透光的金属膜 消除位相跃变的影响 L ΔL 薄膜厚度和折射率的测量 折射率测量 方法很多，最简单最普遍方法是测量单层薄膜在中心波长位置的R，由 得到薄膜折射率 精确测量的方法有布儒斯特角法 改变偏振光的入射角，当膜层反射光强与基底反射光强一致时，这时的入射角就是布儒斯特角，有 tgφ0＝n，即得到薄膜折射率 薄膜透过率和反射率的测量 常用测量方法 分光光度计 其它方法 根据元件的特殊要求建立相应的一些测量装置 薄膜透过率和反射率的测量 常用测量方法 分光光度计 其它方法 根据元件的特殊要求建立相应的一些测量装置 分光光度计 基于光谱分光原理 单光路 分光光度计 基于光谱分光原理 双光路 双光路分光光度计结构示意图 光源及单色部分 分光部分 样品室 探测器部分 处理系统 透射率测量 在透射测量时，仪器测量的是通过样品光路到达检测器的光强P与通过参比光路到达检测器的光强P0的比值，称之为透过率T 光路校准 测量 P P0 反射率测量 相对反射率测量 简单 难找到满足测量要求的参考样品 任意角度下的相对反射率的测量 反射率测量 绝对反射率测量 V-W型 反射率测量 绝对反射率测量 V-N型 反射率测量 根据V-W和V-N测量原理设计自己的测量附件 自己设计制作的45°绝对反射率测量附件 分光光度计中影响测量的因素 光源及单色部分 分光部分 样品室 探测器部分 处理系统 分光光度计中影响测量的因素 光源 影响波长的测量范围 单色部分 狭缝的大小影响波长的分辨率 探测器 影响测量精度 光学系统 形成部分偏振光以及非平行光影响测量精度 噪声 容易忽略的影响因素 探测器 探测器必须工作在其线性范围之内 探测器光敏面不同位置引起不同的接受信号大小，从而对测量的影响 光学系统 部分偏振光 发散角 具体测量中的一些问题 倾斜入射 入射光位置偏移带来测量的问题 如果测自然光的倾斜入射透过率，由于入射光偏振态的问题带来测量问题 突跳现象 倾斜入射测量问题的解决办法 入射光位置偏移带来测量的问题 加光路补偿镜 倾斜入射测量问题的解决办法 入射光位置偏移带来测量的问题 加光路补偿镜 探测器用积分球 倾斜入射测量问题的解决办法 测自然光的倾斜入射透过率，由于入射光偏振态的问题带来测量问题 加消偏器 消偏器 倾斜入射测量问题的解决办法 测自然光的倾斜入射透过率，由于入射光偏振态的问题带来测量问题 加消偏器 加起偏器 T=(Tp+Ts)/2 起偏器 倾斜入射透射测量问题的解决办法 测自然光的倾斜入射透过率，由于入射光偏振态的问题带来测量问题 加消偏器 加起偏器 没有消偏器和起偏器时 将入射面旋转90度测量二次 T=(T1+T2)/2 倾斜入射透射测量问题的解决办法 突跳现象 突跳现象产生的原因 这种现象一般都出现在倾斜入射的情况下 偏振的影响 偏振光在可见光和近红外光的差异 光斑位置的影响 具体测量中的一些问题 透射测量 倾斜入射 透射光位置偏移带来测量的问题 如果测自然光的倾斜入射透过率，由于入射光偏振态的问题带来测量问题 人有了知识，就会具备各种分析能力， 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书，广泛阅读， 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识， 培养逻辑思维能力； 通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平， 培养文学情趣； 通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操， 给我们巨大的精神力量， 鼓舞我们前进。 *