浙江大学材料方法分析.ppt

材料微观分析方法 概述 成分、组织及性能是材料研究必须考虑的三大要素 要求： 复杂体系痕量分析 原位分析 在线实时分析等 全分析、连续化、智能化、自动化、低能耗及无污染是材料分析的发展趋势 X射线衍射 晶体结构 空间点阵 晶体 空间点阵 阵胞与点阵类型 晶胞 单位点阵矢量、原点、晶轴 a，b，c a，b，g 布拉菲点阵 选择晶胞的原则 最能反映点阵的对称性； a, b, c 相等的数目最多； a, b, g尽可能为直角； 体积最小。 14种布拉菲点阵，7大晶系 晶体学指数 晶向指数 晶面指数 晶向指数 用?uvw?表示，uvw为最简不可约分数。 晶向指数 如果晶体中任意两点的坐标已知，则过此两点的直线指数可确定。 晶面指数 晶体中相互平行的结点平面簇，不但相互平行，间距相等，而且结点的分布也相同，称为平面组，可用(hkl)表示， 晶面指数 晶面指数 低指数晶面在衍射中有较大的重要性。这些晶面上的原子密度较大，晶面间距也较大，如(100), (110), (111), (210), (310) 等。 同一晶体中存在若干组等同晶面，其主要特性为面间距相同，结点的分布相同；用符号?hkl?表示。如，在立方晶系中，?100?晶面族包括(100), (010), (001), …等六个晶面组。在正方晶系中{100}晶面族包含几个晶面组？在斜方晶系中{100}晶面族包含几个晶面组？ 六方晶系晶向指数与晶面指数 晶面：(hkil) ? (hkl), i = - (h+k) 晶向：[uvtw] ? [UVW], U = u - t, V = v - t, W = w; u =1/3 (2U-V), v = 1/3 (2V-U), t = - (u+v), w = W. 倒易点阵 倒易点阵的定义 正点阵：a, b, c, a, b, g 倒点阵：a*, b*, c*, a*, b*, g* 倒易点阵基本矢量 倒易点阵基本矢量 倒易点阵基本矢量 正倒点阵关系 正点阵与倒点阵互为倒易 正点阵的晶胞体积与倒点阵的晶胞体积互为倒数。 倒点阵矢量的重要性质 r*hkl = ha* + kb* + lc* r*hkl ? (hkl) ?r*hkl ? = 1/d hkl 倒点阵矢量的重要性质 [uvw]与(uvw)*正交 倒点阵矢量的重要性质 正倒点阵线面互应关系： 倒点阵矢量的重要性质 倒点阵矢量与正点阵矢量标积必为整数。 晶面间距公式 晶面夹角公式 晶带 晶带：晶体中若干个晶面同时平行于某一晶向时，则这些晶面属同一晶带。该方向就称晶带轴, 用[uvw]表示。 晶带定理 晶带定理 当已知某晶带中任意两个晶面的晶面指数，可用晶带定律,计算出晶带轴的指数 X射线物理学基础 历史回顾 1895年 ? W.K. R?ntgen （德）发现X射线?“X射线透射学” ?医学诊断及医疗 ?材料及零件探伤。 1912年 ? M. von Laue etc. （德）发现X射线在晶体中的衍射现象；提出了一组衍射方程式。?“X射线衍射学”、“X射线晶体学” W.H. Bragg W.L. Bragg（英）提出了晶面“反射”X射线的概念并导出布拉格方程。?单晶结构研究 1916年 ? P. Debye, P. Scherrer：多晶试样的“粉末”法。（照相） 1928年 ?月H. Geiger, W. Muller 用计数器计录X射线； ? X射线衍射仪 。50年代起普遍使用； 70年代后：电子计算机等相结合。 X射线晶体学 应用领域： 材料、冶金、机械、地质、化工、纺织、食品、医药… 研究内容 物相分析 精细结构研究 晶体取向的测定 特点 无损检测，取样少，准确性高； 设备复杂昂贵，使用者需有专业知识… X射线的本质 电磁波 X射线的波粒二象性 Ex,t=E0sin2p(x/l-vt) Hx,t=H0sin2p(x/l-vt) X射线的本质 X射线的产生 X射线管 连续X射线谱 特征X射线谱 连续X射线谱 高速电子与靶材原子碰撞，运动受阻减速，其损失的能量便以X射线形式辐射出来。称为连续X射线，又称白色X射线 连续谱的短波限：l0 连续谱波包顶部对应的波长：～1.5l0 eV = humax = hc/ l0 l0 = K/V = 1.24/V (nm) K = 1.24nm?kV 连续X射线谱 连续谱强度分布曲线下的总面积（总强度）： I连续=?I(l)dl I连续 =aiZVm, a～1.1-1.4?10-9 m ～ 2 特征X射线 高能电子将靶材原子的某内层电子击出，各外层电子向内层跃迁而辐射出X射线光子的过