数据通路组成实验要点.docVIP

华中科技大学武昌分校实验报告 实验名称 数据通路组成实验2014.11.14 第 3 次试验 指导老师 陈国平 计科 班号 1202 组别 学生姓名 唐海军 047 同组学生 实验报告内容： 一、、实验电路 四、故障的分析与排除 数字电路中难免要出现这样或那样的故障。有了故障迅速加以诊断并排除，使电路能正常运行，这是实际工作中经常遇到的事。因此，学会分析电路故障，提高排除故障的能力，是很有必要的。 就数字电路的故障性质而言，大体有两大类：一类是设计中的错误或不当造成的故障；另一类是元件损坏或性能不良造成的。 设计错误造成的故障 常见的设计错误有逻辑设计错误和布线错误。 对于布线错误，只要能仔细的进行检查就可以排除。要较快的判断出布线错误的位置，可以通过对某个预知特性点的观察检测出来。例如，该点的信号不是预期的特 华中科技大学武昌分校实验报告 实验名称 成绩 实验日期 第 次试验 指导老师 专业 班号 组别 学生姓名 同组学生 实验报告内容： 性，则可以往前一级查找。常见的布线错误是漏线和布错线。漏线的情况往往是输入端未连线或浮空。浮空输入可用三状态逻辑测试笔或电压表检测出来。 对于设计错误，需要在设计中加以留心和克服。首先要遵循的一个原则是：为使系统可靠的工作，从系统的初始状态开始，应该把线路置于信号的稳定电平上，而不是置于信号的前沿或后沿；其次没有出口的悬空状态是不允许存在的；另外设计中应当避免静态和动态的竞争冒险；最后，为便于维修，设计中应考虑把系统设计成具有单步工作的能力。 常见的设计错误包括对于中小规模集成电路中不用的输入端的接法。对一个不用的输入端常忘了接，因而输入端相当于接了有效的逻辑“1”电平。建议将所有不用的“与”门输入端统一接到一个逻辑“1”电平上，将所有不用的“或”门输入端统一接到一个逻辑“0”电平上。计数器不计数和寄存器不寄存信息的问题常常就是由不用的输入端进来的干扰信号引起的。 元件损坏造成的故障 一个数字系统，即使逻辑设计和布线都正确无误，但如果使用的元件损坏或性能不良，也会造成系统的故障。这种故障只要更换元件，就能恢复正常运行。除了元件损坏或性能不良之外，数字系统的故障还可能由于虚焊、噪声等原因造成。许多最初是间歇性故障，但最终还是会变成固定性故障。这种故障不是固定的逻辑高电平，就是固定的逻辑低电平，所以通常称之为“逻辑故障”。实验逻辑测试笔和逻辑脉冲笔（逻辑脉冲产生器）可以方便地查找数字电路中的逻辑故障。一种方法是先使用逻辑测试笔检测关键信号（如时钟、启动、移位、复位等） 五、实验任务 将实验电路与控制台的有关信号进行连接。 用8位数据开关SW7-SW0向RF中的四个通用寄存器分别置入以下数据：R0＝0FH、R1＝0F0H、R2＝55H、R3＝0AAH。 用8位数据开关向AR送入地址0FH，然后将R0中的数据0FH写入双端口存储器中。用同样的方法，依次将R1、R2、R3中的数据分别置入RAM的0F0H、55H、0AAH单元。 分别将RAM的0AAH单元数据写入R0，55H单元数据写入R1，0F0H单元数据写入R2，0FH单元数据写入R3。然后将R0－R3中的数据读出，验证数据的正确性，并记录数据。 六、实验要求 做好实验预习，掌握实验电路的数据通路特点和通用寄存器堆的功能特性。 写出实验报告，内容是： 实验目的。 写出详细的实验步骤，记录实验数据。 其他值得讨论的问题。 七、步骤 将实验电路与控制台的有关信号进行连接?接线数据通路 RS0 RS1 RD0 RD1 WR0 WR1 LDRi LDDR1 模拟开关 K0 K1 K2 K3 K4 K5 K6 K7 　 数据通路 RS_BUS# SW_BUS# ALU_BUS# RAM_BUS# LR/W# CEL# LDAR# 模拟开关 K8 K9 K10 K11 K12 K13 K14 第 次试验 指导老师 专业