元器件失效模式(RAC)_new精要.doc

元器件失效模式及其失效比例 元器件名称 失效模式 比例% 元器件名称 失效模式 比例% 二极管 电压调整二极管 （齐纳） 开路 45.0 普通二极管 短路 49.0 参数变化 35.0 开路 36.0 短路 20.0 参数变化 15.0 晶体管 微波二极管 开路 60.0 双极型晶体管 短路 73.0 参数变化 28.0 开路 27.0 短路 12.0 场效应晶体管 短路 51.0 整流二极管 短路 51.0 输出偏低 22.0 开路 29.0 参数变化 17.0 参数变化 20.0 开路 5.0 可控硅整流二极管 短路 98.0 输出偏高 5.0 开路 2.0 GaAs场效应晶体管 短路 61.0 小信号二极管 参数变化 58.0 开路 26.0 开路 24.0 参数变化 13.0 短路 18.0 射频晶体管 参数变化 50.0 开关二极管 短路 40.9 短路 40.0 不连续 22.7 开路 10.0 开路 9.1 复式晶体管 短路 61.1 烧毁 9.1 加压不当 11.1 参数负漂移 4.5 基极开路 5.6 游离颗粒 4.5 发射极开路 5.6 其它 9.1 连续损耗 5.6 半导体闸流管 断不开 45.0 无输出 5.6 短路 40.0