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第三节在位错上的力及位错的运动作用在
应力场分析模型都采用弹性连续介质模型,即: 假设晶体是完全弹性体,服从虎克定律(σ=Eε,τ=Gγ); 假设晶体是各向同性的,E、ν不随方向而变; 近似认为晶体内部由连续介质组成,应力、应变、位移等是连续的。 该模型未考虑到位错线附近的严重点阵畸变区的情况,导出的结果不能应用于中心区。 在中心区以外适用,已为实验证实。 刃型位错应力场的特点 1)同时存在正应力分量和切应力分量; 2)应力场中任意一点位置 ; 3)y0时(滑移面以上区域), (压应力); y0时(滑移面以下区域), (拉应力); y=0时(即在滑移面上), ,即滑移面上没有正应力,只有切应力,且为最大值。 4)各应力分量值与Z值无关,即: 与刃位错线平行的直线上各点应力 状态相同。r越大,即离位错中心越 远,各分量值越小。 应力场分布见图: 该公式也不能用于位错中心区。 第三节 作用在位错上的力及位错的运动 一、作用在位错上的力 实际:位错在外加切应力或其他内应力的作用下发生运动或有运动的趋势。 假设:位错上作用了一个力F,驱使位错运动,则F必垂直于位错线。 外加切应力为τ,位错长度为L,柏氏矢量为b,移动距离为ds,已滑移区面积Lds,作用在该区域上的外力为τLds,该区域的滑移量为b,则滑移消耗的功为:W1=τLdsb 力F使位错线移动ds所做的功为 :W2=Fds ∵W1=W2,即:Fds=τLdsb 故有 F=τLb 作用于单位长度位错线的力则为: f =τb 此式表明: f 的大小 与τ和b 成正比。 同一位错线上各点b相同,只要切应力均匀地作用在晶体上,则位错线上各处 f 力的大小也相同。 f 力的方向:垂直于位错线,指向滑移面的未滑移区。 刃位错: f 力与外加切应力τ的方向一致。 螺位错: f 力与外加切应力τ的方向垂直。 说明:力f 并不是τ的分力,τ是位错附近原子实际受到的力,与b 的方向一致; f 只是作用在位错上的假想力,为组态力,不代表原子实际所受的力,也区别于作用在晶体上的力。 任意形状位错: f 力的大小仍为τb ,方向为位错线上各点的法线方向。 τ τ 二、位错的运动 位错运动的两种基本形式——滑移和攀移。 滑移:位错线沿着滑移面的运动。 攀移:位错沿着垂直于滑移面的方向运动。 刃型位错:既可滑移,也可攀移; 螺型位错:只能滑移,不可攀移。 1、位错的滑移 1)刃型位错的滑移 原子的移动: 在外加切应力作用下,位错中心附近的原子沿切应力方向作少量移动(1个原子间距),就可使位错线在滑移面上向右移动1个原子间距。 故位错滑移只需很小的切应力。 刃型位错滑移时原子的移动 在相同的切应力作用下,负刃位错的移动方向与正刃位错相反。但造成的晶体滑移的结果相同。 刃型位错线的移动: 滑移方向:垂直于位错线,但平行于b; 滑移面:位错线与b构成的平面,是一个确定的平面。 滑移结果:产生一个宽度为b的台阶。 2)螺型位错的滑移 原子的移动: :为滑移面以上原子。 :为滑移面以下原子。 b)图中,虚线:点阵原始位置;实线:位错滑移一个原子间距后的状态。 切应力作用下,位错周围的原子沿切应力方向移动一个微小距离,位错线向左移动了一个原子间距。 τ b 螺型位错线的运动 滑移方向:垂直于位错线,也与b垂直; 滑移面:位错线与b构成的平面,位错线与b平行,可以有多个。 滑移结果:产生一个宽度为b的台阶。 3)混合型位错的滑移 在相同的切应力作用下: 正、负刃型位错线的运动方向相反; 左、右螺型位错线的运动方向相反。 位错环: 滑移方向:也垂直于位错线,沿外法线方向向外扩展,而与b成任意角度; 滑移结果:产生一个宽度为b的台阶。 2、位错的攀移 正攀移:多余半原子面向上移动。需失去最下面的一排原子。 实现方式:空位扩散到半原子面的下端,或半原子面下端的原子扩散到别处。 负攀移:多余半原子面向下移动。 实现方式:空位扩散到别处,或原子扩散到半原子面的下端。 攀移的特点 位错攀移伴随物质的迁移,需要扩散才能实现。 (1)位错攀移时,需要热激活,所需能量较滑移大; (2)低温时攀移较困难,高温下易实现; (3)过饱和空位有利于攀移,经淬火或冷加工的金属加热时,位错的攀移起重要作用; (4)作用于半原子面的压应力能促进正攀移,拉应力能促进负攀移,切应力不起作用。 第四节 位错的应力
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