材料方法第7章详解.ppt

第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 第七章 多晶体织构的测定 本章主要内容 第一节 极射赤面投影法 第二节 织构的种类和表示方法 第三节 丝织构指数的测定 第四节 极图的测定 第五节 反极图的测定 第七章 多晶体织构的测定 理想多晶体中各晶粒的取向呈无规分布，宏观上表现为各向同性 实际的多晶体材料的晶粒存在择优取向，称这种组织状态为织构 多晶体材料织构的形成往往与其制备和加工过程有关，如铸造、镀膜、塑性变形、退火等 织构使多晶体材料的物理、化学、力学等性能发生各向异性。这种性质有时是有害的，有时又是有益的 X射线衍射是织构测定的主要方法，近年来电子背散射衍射(EBSD)技术在织构分析方面亦得到广泛应用 第一节 极射赤面投影法 一、极射赤面投影法的特点 极射赤面投影法用以表达晶向、晶面的方位，见图7-1 1) 被投影晶体置于参考球球心O?，假定晶体的所有晶向、晶面均通过球心 2) 投射点B为球面上一点的射线，投影 面是与过B点直径垂直的任