集成电路工艺 信息学院 电子科学与技术 参考书: C.Y. Chang, S.M. Sze, “ULSI Technology” 王阳元 等,“集成电路工艺原理” M. Quirk, J. Serda, “半导体制造技术” 成绩计算: 平时成绩(出勤、作业、小测验)20%+期终考试80% 请假需有辅导员签名!补交作业,抄袭, 扣分!! 本门课程共分几大块来介绍: 一、绪论 主要介绍微电子器件工艺的发展历史,集成电路的发展历史及工艺实例。 二、硅的晶体结构 主要介绍硅晶体的特点,晶向,晶面,缺陷,杂质等等。 三、热处理及离子注入 氧化,扩散,离子注入工艺 四、薄膜工艺 物理气相淀积,化学气相淀积,外延工艺 五、图形转移工艺 光刻与刻蚀 六、工艺集成 金属化与多层互连,工艺集成 七、后工艺,测试 减薄,蒸金,划片,烧结,键合,封装,测试 集成电路工艺分几大块技术: 图形转移:将设计在掩膜版(类似于照相底片)上的图形转移到半导体单晶片上 光刻:接触光刻、接近光刻、投影光刻、电子束光刻等 刻蚀:干法刻蚀、湿法刻蚀 掺杂:根据设计的需要,将适量的各种杂质掺杂在需要的位置上,形成晶体管、 接触等 离子注入: 退火 扩散: 制膜:制作各种材料的薄膜 氧化:干氧氧化、湿
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