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DSP原理及应用 实 验 讲 义 (SEED-DTK2812 ) 黄 山 学 院 信 息 工 程 学 院 2012-2 目录 第一章 实验系统介绍 1.1 SEED-DTK2812的原理框图……….………...….……………..…...3 1.2试验箱的整体配置与特点………………….……...…………………….4 1.3 实验箱功能实现…………………………….….……..…………………5 1.3.1 SEED-DTK2812…………………………….…………………….5 1.3.2 SEED-Mboard ….……………………….………………………..5 第二章 实验 2.1 CCS使用实验 实验一 CCS使用和调试…..……….……..…………………………….7 2.2片上资源应用实验 实验二 SRAM读写实验……………….…………..…………………..19 实验三 定时器控制实验……………………….……..………………..22 2.3 DEC板卡应用实验 实验四 交通灯实验……….………………….…..…….…...…….……26 2.4 DSP算法实验 实验五 线性卷积算法的实现……….…………………...……..……30 实验六 快速傅立叶变换（FFT）算法实验……...….…………………35 实验七 无限冲击响应滤波器(IIR)算法实验………….….………….…40 实验八 有限冲击响应滤波器(FIR)算法实验……………..……………46 第章实验系统介绍 系统概述 SEED-DTK（DSP Teaching Kit）是一套可以满足大学本科、研究生和教师科研工作的综合实验设备。SEED-DTK是我公司在总结以往产品的基础上，以独特的DSP结构、强大的DSP主板功能、丰富的外围实验电路、精心设计的实验程序、精湛的产品工艺形成的高性能产品。 本文档主要介绍的是SEED-DTK2812实验箱，它SEED-DEC2812板卡以及SEED-DTK_MBoard构成；其中主控板是我公司生产的SEED-DEC2812SEED-DTK2812实验箱实验例程 SEED_DEC2812板卡实验例程 CCS软件应用实验： 介绍CCS的使用，编写简单的例程。DSP片上资源应用实验 本部分例程介绍的是DSP的片上资源。 SEED_DEC2812板卡应用实验 SEED_DEC2812板卡与实验箱资源的应用实验。包括：异步、同步串口通讯；扩展I/O口使用AD/DA的使用。算法实验 FFT，滤波（FIR、IIR），卷积，自适应滤波器算法实验SEED-DEC2812板卡与SEED-DTK_MBoard板卡之间数据传递实验。 母板实验例程 DSP5402片上资源应用实验 本部分例程主要是DSP片上资源的使用介绍。 实验箱外设实验 实验箱母板资源的应用实验。包括：。SEED-DTK2812的原理框图如下： 实验箱整体配置与特点 实验箱整体配置 SEED-DTK2812实验箱由以下几部分构成： SEED-DEC2812 实验箱DSP基本系统 高性能DSP：TMS320，主频10MHz 外扩SRAM，最大容量为512K×16位，基本配置为256K×16位 512字节的EEPROM+RTC实时时钟 16路AD输入 4路DA输出 12路PWM输出，6路捕捉输入 双路URAT接口，接口标准为RS232／RS422／RS485，可配置 符合USB2.0标准的高速Host端接口 1路CAN总线接口，符合CAN2.0协议 SEED-Mboard 实验箱人机接口模块 处理器为 TMS320C5402 SRAM：64K×16-位（可扩展至256K×16位） Flash：256K×16-位（用于存放二级标准汉字库及驻留实验程序） 提供手动复位 1路RS232接口 路12位10μS建立时间±10V输出D/A 键薄膜键盘 240*128大屏幕液晶显示 以上只介绍实验箱所用到资源，如想使用其他资源请参考各个模块的用户手册。 实验箱功能实现 SEED-DEC2812 实验箱中SEED-DEC2812工作状态如下： Boot模式：。 输入时钟源： SEED-Mboard 实验箱中本模块工作状态如下工作方式的选择 SEED-Mboard的工作模式为MC工作方式BOOT模式 当SEED-Mboard处于MC工作方式时，只能用FLASH引导方式，既程序存放在FLASH中，上电或复位后，DSP将FLASH中的程序BOOTLOAD到SRAM中，程序在SRAM中运行。 工作频率 使用10MHz外部频率输入；当复位后，PLL硬件初始化设置为5倍频。其芯片管脚CLKMD3～CLKMD1设置为010；便于DSP读取FLASH的程序。系统工作正常