南京大学-X射线荧光光谱实验创新.doc

X荧光分析 一．实验目的荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法。 2．验证莫塞莱定律，并从实验推出屏蔽常数。 3．研究对多道分析器的定标，以及利用荧光分析测量位未知样品成分及相对含量的方法。 二．实验原理 以一定能量的光子、电子、原子、粒子或其它离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使该电子发射出来，即俄歇电子发射。测出特征射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。 特征曲线射线根据跃迁后电子所处能级可以分为系等；根据电子跃迁前所在能级又可分为等不同谱线。特征谱线的的能量为两壳层电子结合能之差。因此，所有元素的系特征射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。荧光分析中激发X射线的方式一般有三种： （1）用质子、α粒子等离子激发 （2）用电子激发； （3）用射线或低能射线激发。我们实验室采用射线激发（技术），用放射性同位素作为激发源的光管。 技术中，入射光子除与样品中原子发生光电作用产生内壳层空位外，还可以发生相干散射和非相干散射（康普顿散射），这些散射光子进入探测器，形成分析中的散射本底。另外，样品中激发出的光电子又会产生轫致辐射，但这产生的本底比散射光子本底小得多，且能量也较低，一般在以下。所以能谱特