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- 2016-11-25 发布于湖北
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* * Bs可通过测量标准物(粒径10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到。Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近。最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗晶样品来测得Bs值。 (1) 应选取多条低角度x射线衍射线 进行计算,然后求得平均粒径。 (2) 当粒径很小时,结果颗粒内部会产生第二类畸变,这也会导致x射线线宽化. 因此,为了精确测定晶粒度时,应当从测量的半高宽度BM中扣除二类畸变引起的宽化. 四.注意问题 一.概念:比表面积是指每克物质中所有颗粒总外表面积之和。 比表面积是衡量物质特性的重要参量。 比表面积是表征粉体中粒子粗细的一种量度。 6.3 比表面积法 通过测定粉体单位重量的比表面积Sw,可计算纳米粉中粒子的直径(设颗粒呈球形): d=6/?Sw ?为密度,d为颗粒直径;Sw 为比表面积, Sw一般测量方法为BET多层气体吸附法。 二.测量原理 V为被吸附气体的体积;Vm为单分子层吸附气体的体积;p为气体压力;p0为饱和蒸气压;k为y/x 三. BET方程 令 将上式两式相加,取倒数得到Vm ,即 把Vm换算成吸附质的分子数(Vm/V0?NA)乘以一个吸附质分子的截面积Am,
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