铁氧体磁芯高频损耗的有效值法测量.docVIP

　铁氧体磁芯高频损耗的有效值法测量　　代学刚，兰中文，王豪才　　(电子科技大学信息材料工程学院，四川成都 610054)　　摘 要：磁芯损耗的测试方法有很多，如谐振法、电桥法、功率表法等，但是这些测试方法均用在较低频率。随着功率铁氧体磁芯的使用频率越来越高，进一步研究高频下的磁芯损耗测量方法成为必要。阐述了国际电工委员会(IEC)发布的有效值法的原理，并用组成的测试系统进行了一些测试，最后对测试所得的数据进行了分析，结果表明磁芯损耗曲线与经验公式P=KBnp-p吻合。　　关键词：铁氧体;高频损耗;有效值法　　1 高频下铁氧体磁芯的损耗　　众所周知，铁氧体磁芯损耗(P)是由磁滞损耗(Ph)、涡流损耗(Pe)和剩余损耗(Pr)构成的。在高频功率铁氧体的配方和工艺过程中，必须细化晶粒并使晶粒均匀完整，这样可以认为剩余损耗(Pr)为一常数;而Pe和Ph与使用频率和工作磁感应强度峰-峰值Bp-p有关，当频率一定时，磁芯功率损耗Ph+Pc∝。参考磁芯损耗公式Ph=KhfmBnp-p、Pe = KefkBlp-p (其中Kh和Ke分别是磁滞损耗系数和涡流损耗系数，已有的经验公式认为m=1、k=2、n=l=1.9～2.9)，这样总的损耗可表示为P=KBnp-p。那么在频率较高(大于200kHz且频率一定)时磁芯损耗是否仍然符合P=KBnp-p这种关系呢?而其中的n值又应为多少呢?这显然是一个值得研