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表面形貌及微区成分分析leaflet
SCOOP
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SEM+EDS 特点
SEM的二次电子成像分辨率约3nm
EDS成分分析的元素范围Be（5）～U（92）
EDS分析深度约1μm
元素检测下限约1%
空间分辨率约1μm
详情敬请垂询:
刘小姐
Tel：07556003
Email:wendy-yw.liu@
郭先生
Tel：07558311
Email: bianco.guo @
测试项目：
固体材料表面的形貌厚度
样品成分的线分布和面分布
锡须观察和测量
适用产品和领域:
金属、陶瓷、催化剂、矿物、玻璃、PCB板；渗氮、渗碳喷涂
利用扫描电子显微镜（SEM）+X射线能谱仪（EDS）可对表面进行形貌观察，最大放大倍数可达30万倍，同时利用特征X射线对微区的成分进行定性半定量分析。
表面形貌及微区成分分析
以上活动最终解释权归SGS工业部深圳材料实验室所有。非经SGS授权，禁止引用或引证本刊内的任何信息。
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工业部深圳材料实验室， SGS-CSTC通标标准技术服务有限公司 2013年 08
张小姐
Tel：07556002
Email:sandy.zhang@
周小姐
Tel：07558933
Email: amy-zy.zhou@
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