QC七大手法(最终修改版本)概述.ppt

* 请依照上个课堂练习的数据， 计算下列的各项指标结果： Ca、Cp、Cpk、Ppk。 课堂练习： * * * 1、建立不合格品率控制图（P-chart）的步骤： A、收集数据 B、计算控制限 C、过程控制解释 D、过程能力解释 * 步骤A： Ａ 阶段 收集数据 A1、选择子组的容量、频率及数量； 子组容量 分组频率 子组数量 A2、计算每个子组內的不合格品率； A3、选择控制图的坐标刻度； A4、将不合格品率描绘在控制图上。 A1、选择子组的容量、频率及数量 子组容量： 用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50～200)以便检验出性能的变化，一般希望每组內能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处； 分组频率： 应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但与大的子组容量的要求矛盾； 子组数量： 要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 * A2、计算每个子组內的不合格品率 记录每个样本组的下列值： 被检项目的数量─ n 发现的不合格项目的数量─ np 通过这些数据计算不合格品率： * A3、选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识別（小时、 天等）作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大 的不合格率值的1.5到2倍。 * 划图区域 A4、将不合格品率描绘在控制图上 将每个样本组的不合格品率P描绘在控制图上；依次用直线连接， 将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势；当点描完后，粗 览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比別的高出或低出许多， 检查计算是否正确；记录过程的变化或者可能影响过程的异常状況， 当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部分。 * Ｂ阶段 计算控制限 B1、计算过程平均不合格品率； B2、计算上、下控制限； B3、画线并标注。 步骤B： * 计算过程平均不合格率和上、下控制限 中心线和控制限： 画线并标注： 均值用黑色水平实线； 控制限用红色水平虚线； 在初始研究阶段，这些应作为试验控制限。 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化，会如下图： * 2 3 2 1 2 1 2 1 2 1 100 300 200 100 100 200 100 300 200 100 * 在实际应用时，当各样本组容量与其平均值相差不超过正负25%时，可用平均样本容量（n）来计算控制限，当样本组容量的变化超过上述值时，则要求单独计算这些特别小或特别大样本时期内的控制限。 注意：任何处理可变控制限的程序都会变得麻烦，并且可能使解释控制图的人员造成混淆。如果可能的话，最好是调整数据收集计划，从而使用固定的样本容量。 * * Ｃ阶段 过程控制用控制图解释 C1、分析数据点，找出不稳定证据； C2、寻找并纠正特殊原因； C3、重新计算控制界限。 超出控制限的点； 明显的非随机图形。 建立p图的步骤C C2、寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情況时，则必须研究操 作过程以便确定其原因。然后纠正该原因并尽可能防作 者止其再发生由于特殊原因是通过控制图发现的，要求 对操作进行分析，希望操。或现场检验员有能力发现变 差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决 问题技术。 * C3、重新计算控制界限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应计算试验控制限； 一旦控制图稳定和受控并且过程能力可接受，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，控制图则成为管理用控制图。 * Ｄ阶段 过程能力解释 D1、计算过程能力； D2、评价过程能力； D3、改进过程能力； D4、绘制并分析修改后的过程控制图。 建立p图的步骤D D1、计算过程能力 对于p图，过程能力是通过工序平均不合格品率P来表示，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例(1-P)来表示。 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期样本组的p值是该过程当前能力的更好的估计值。 * * D2、评价过程能力 过程稳定，不合格品率 维持在一定的水平当中 降低不合格品率 采取管理上的措施，才能缩小 控制界限，降低不合格品率 缩小控制限 D3、改进过程能力 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因——过程能力。 可以使用诸如排列图分析法及因果分析图等解决问题技术。但是如果仅使用计数型数据将很难理解问题所在，