《信息光学》第九激光散斑及其应用剖析.pptVIP

本章主要内容 1、散斑现象及其分类 2、散斑照相术 3、散斑干涉测量 1、散斑现象及其分类 当激光照射物体的漫射表面（如纸张、未抛光的金属表面、混凝土表面等），或者通过一个透明的漫射体时，会在其表面以及附近空间产生无规则分布的亮暗斑纹，即激光散斑。 散斑是一种干涉现象。激光照射粗糙表面时，表面上每一点都可看作子波源，产生散射光（子波），这些子波是彼此相干的。在空间某一点相遇时，各子波的振幅和位相都不同，产生相长干涉或相消干涉，在空间产生无规则分布的亮暗散斑纹，如下图所示。 1、散斑现象及其分类 根据观察方式不同，可把散斑分为两种类型：自由空间散斑和像面散斑。 1.1 自由空间散斑 激光照明漫射体（反射或透射体）时，在其附近的自由空间产生的散斑称为自由空间散斑（或菲涅耳散斑、“客观”散斑）。观察屏上任一点的光场，来自于整个漫射表面上所有散射点源产生的子波的相干叠加。 距离漫射体为z处的散斑的横向和纵向平均尺寸分别为 其中，?为光的波长, L为漫射体上照明光束孔径的线宽度，α为照明漫射体对观察点的张角。 散斑的平均尺寸与漫射体本身的颗粒度无关，但与漫射体的结构有关。 1、散斑现象及其分类 1.2 像面散斑 漫射体受激光照射，经透镜成像，在像面上产生的散斑称为像面散斑（或夫琅和费散斑、“主观”散斑）。每一个物点在像面上产生一个衍射斑（相干脉冲响应），所有衍射斑相干叠加得到物体的像。叠加时要考虑各点源的随机位相分布，因而在像上产生散斑。 散斑的平均横向尺寸为 其中，?为光的波长，di为像距，D为透镜孔径。 像面散斑的尺寸与漫射体被照明的面积无关，而仅与透镜孔径对观察点的张角?有关。 2、散斑照相术 什么是散斑照相术？ 用一束激光照射漫射体，在同一底片上记录物体位移（或形变）前后的两个或多个散斑图，再用光学方法从中提取出漫射表面位移或形变的信息，这种方法称为散斑照相。 利用散斑照相术可以测量漫射物体的位移、形变、振动等，还可以进行图像处理；下面将介绍散斑照相术的一些典型应用： 底片或物体横向移动时记录的散斑图 底片或物体纵向移动时记录的散斑图 散斑照相术用于测定漫射物体的面内位移或形变 散斑照相术用于图像的光学处理 2、散斑照相术 2.1 底片或物体横向移动时记录的散斑图 1） 两次曝光记录的散斑图 利用上图所示的装置两次记录漫射体M所产生的散斑强度图，照相底片H上记录的强度分布是两次曝光记录的两个散斑图强度之和： 其中，g( )是未移动前散斑图的强度分布，y0是第一次曝光后底片沿y方向移动的距离。 2、散斑照相术 显影处理后，假定H的复振幅透过率正比于曝光强度，即 如下图所示，用波长为?的单色平面波照明负片H，在透镜的后焦面上观察频谱，有 其中， 是 的频谱， ， 为透镜焦距。 2、散斑照相术 若忽略焦点处的亮点，焦平面其他位置的光强分布为 其中，|G|2 是单次记录的散斑图g( )的功率谱。这样，在一个散斑背景上 出现了杨氏条纹，条纹方向垂直于记录时H平移的方向，条纹的间隔??取决 于H的位移量y0 于是通过测量干涉条纹的间距，就可以测量底片或慢射物体横向移动的距离。 2、散斑照相术 2) 多次曝光记录的散斑图 在两次曝光记录的散斑图的傅里叶谱中得到了斑纹调制的双光束干涉条纹，为了得到多光束干涉条纹，则需要多次曝光，例如N+1次，而且每次曝光之间H都沿y方向平移距离y0。则记录的强度为 显影处理后，假定H的复振幅透过率正比于曝光强度，即 2、散斑照相术 显影后的负片H放置在衍射装置中，在透镜后焦面上得到t( )的频谱 若忽略焦点处的亮点，焦平面其他位置的光强分布为（如下图）： 于是通过测量干涉条纹的间距，就可以测量底片或慢射物体横向移动的距离。 2、散斑照相术 3） 曝光期间底片连续移动记录的散斑图 若曝光器件底片以恒定速度沿y方向连续位移距离y0，记录的强度为 经过与1)、2)完全的显影处理后放置在相同的衍射装置中，在后焦面上得到的光强为（如下图）： 2、散斑照相术 2.2 底片或物体纵向移动时记录的散斑图 如下图所示，用底片记录毛玻璃M产生的散斑图，在第一次曝光后，底片沿纵向移动?，再作第二次曝光。假定?远小于散斑的平均纵向尺寸，在H上记录了两个散斑图，区别仅在于径向比例大小不同。 2、散斑照相术 显影处理后，负片的复振幅透过率正比于曝光强度，观察光路如下图所示。相干平面波垂直照明负片，用小孔D限制细光束通过。在小孔后的观察屏上得到干涉条纹，其强度为 其中，??是H上点到中心的距离，d是底片H到小孔D的距离，z是记录时M到底片H的距离。 观察屏上得到了被斑纹调制的符合牛顿环规律的圆形条纹