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第07章 热探测器 7.1 探测元的热容量、热导和热时间常数 输出的电压为： 低频时ωτt1, ωτe1 响应率为： 响应率与调制频率成正比 ω=0，Sv也等于零，即不响应连续辐射 热释电探测器几乎是一种纯容性器件，阻抗高达1010Ω，必须配以高阻抗的负载 －－结型场效应管（JFET）－－以实现阻抗变换 无论从功率传输还是驱动负载角度 高频时ωτt1, ωτe1 响应率与调制频率成反比 中频时ωτt1, ωτe1 响应率不随频率改变 热释电探测器应用举例 热成像摄像机（军事和医疗应用） 热释电靶 入射的成像光束经斩波器调制，靶上各处的电荷变化正比于该处的温度辐值变化（照度变化） 光电导探测器、光伏探测器、光电子发射探测器和热探测器的光谱响应、响应时间和比探测率等参数的大致范围。 时间 ns μs ms s 10s PC PV PMT Thermal Detector 光谱 0.38 可见光 0.76 红外光 PC PV PMT Thermal Detector 紫外光 1000 μm D* 107 PC PV PMT Thermal Detector 108 109 1011 1015 1016 1013 * 光电效应 光热效应 热探测器是利用探测元吸收入射光辐射，产生热，而引起温升，再借助各种物理效应把温升转变为电量的探测器 光——电 光——温升：各种热探 测器一样 温度效应——电量 测辐射热计——电阻 热电偶热电堆——电压 热释电探测器——电容 端电压 7.2 调制辐照引起的温升 7.4 热探测器等效噪声功率及探测率 7.3 热探测器探测极限 7.5 热探测器与光子探测器的比较 7.8 热释电探测器 7.6 测辐射热计（热敏电阻） 7.7 热电偶和热电堆 7.1 探测元的热容量、热导和热时间常数 热容量Ct：探测元每升1K或降1K所需或释放的热量 热导Gt：探测元单位时间单位温度通过热导散失的热量 探测元吸热后温升ΔT0，然后停止光照，那么它通过热导损失的热量的速率应等于探测元温度下降释放出的热量速率 热导损失的热量的速率 探测元温度下降释放出的热量速率 热时间常数 停止光照t时间后，探测元温度下降为 τt毫秒～几秒量级 增大热导能减小热时间常数 7.2 调制辐照引起的温升 内能增加/t 与环境热交换/t 吸收能量/t 热平衡方程 直流温升 交变温升 的低频，交变温升幅值： 的高频，交变温升幅值： 由于τt毫秒～几秒量级，ω不大时，ωτt1较容易达到，所以热探测器常用于低频辐射场合 7.3 热探测器探测极限 热探测器等效噪声功率由多个噪声源共同决定，温度噪声是决定其探测极限的主要因素 减小热导能提高探测极限 由温度噪声决定的可探测的最小辐通量为： 由于热探测器低频工作： 直流温升和光通量的对应关系为： 减小到零？ 热导Gt 热传导 --细导线 热对流 --真 空 热辐射 热导的极限－－探测极限 在最极限情况下，探测器悬挂在真空小室内，只能依靠辐射进行热导 求热导极限值Gtm 热探测器辐射的总通量： 辐射出射度 黑体辐射出射度 辐射热导 ： 热导极限值 热辐射探测极限 如果给探测器制冷，能提高探测极限 T：探测器温度 T0：环境温度 7.4 热探测器等效噪声功率及探测率 只考虑温度噪声 （ε,η≈1） 热探测器理想D*值： 热探测器实际D*值： 光子探测器 热探测器 7.5热探测器与光子探测器的比较 光子探测器 热探测器 工作机理 响应时间 比探测率 光谱响应 光子－电子 光－热－电 ns～ms ms～s 峰值D* 109～1016 峰值D* 108～109 波长选择性 平坦 7.6 测辐射热计（热敏电阻） 热探测器：吸收辐射Φ—ΔT—某个电量变化—测量Φ 吸收辐射—温升---电阻变化 热敏电阻 在电子电路中的符号 热敏电阻实物照片 材料： 金 属： 线性----模拟量测量，例如，温度 半导体：非线性---辐射探测，例如，火灾报警 半导体 金 属 PTC NTC 电阻温度系数 结构： 环境温度变化补偿 非平衡电桥 浸没技术提高比探测率D* 加上折射率为n的红外透镜后光敏面减小到1/n2，即可接收到等量的光通量 光敏面减小到1/n2 D*增大n倍 7.7 热电偶和热电堆 热探测器： 吸收辐射Φ—ΔT—某个量变化—测量Φ 基本原理：温差电效应： Φ—ΔT—V 材料A、B一端相连，该端在光辐射下产生温升（热端），会使另两端间（冷端）产生电动势，该电动势称为温差电动势 珀耳帖效应：冷端相连