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谢谢! 绕组电阻测量 线组电阻测定是检查线圈内部导线的焊接质量,引线与线圈的焊接质量,线圈所用导线的规格是否符合设计,以及分接开关、套管等载流部分的接触是否良好。 其三相电流不平衡率要求:高压侧绕组小于2%,低压侧绕组1%。 绝缘电阻 对发电机、变压器等电容量较大设备来说,由于其绝缘均为多层介质,绝缘良好时存在明显的吸收现象,绝缘电阻达到稳态值所需时间较长,稳态电阻也高,吸收比大于1。也就存在了绝缘电阻、吸收比、极化指数的概念。(在直流电压下,绝缘电阻中泄露电流随时间而变化的现象成为绝缘介质的吸收现象。) 顺序号 双线圈变压器 兆欧表电压等级 被测线圈 接地部位 1 低压 外壳及高压 5000V 2 高压 外壳及低压 5000V 3 (高压及低压) (外壳) 5000V 4 铁芯 (外壳) 2500V 5 夹件 (外壳) 2500V 电介质的损耗 加压后两极间真空和无损极化(电子式极化和离子式极化)在外回路造成电流ic(无损耗、瞬时)。 有损极化(偶极子转向极化和夹层极化),在外回路造成吸收电流ia(衰减慢)。 存在电导,在外回路造成恒定电流ig(泄漏电流)。 电介质的损耗 当给介质施加相对较低的电压(小于介质中发生游离的电压)时,介质中的能量损耗有两种:一种是有损极化引起的损耗;另一种是电导引起的损耗。介质的能量损耗简称介质损耗。 直流电压下,介质只在加压时发生一次极化。交流电压下,介质除电导损耗外,还有周期性极化引起的极化损耗,这时总的介质损耗需引入一个新的物理量来表示。 tgδ=IR/ICP=(U/R)/UWCP=1/WRCP P=UIR=UICPtgδ =U2wCxtgδ 介质损耗率测量 介质损耗率反映介质在交流下的损耗大小(仅取决于介质本身),即整体绝缘的功率损耗,如绝缘受潮、老化、油质劣化、绝缘表面附着油泥及局部缺陷等都能反映 为什么高压套管要单独做介损试验 U2wCxtgδ= U2wC1tgδ1+ U2wC2tgδ2 tgδ=(C1tgδ1 + C2tgδ2)/Cx UN为63KV及以上的试品,取10KV或大于10KV,但不超过绕组绕端较低电压的60% CX=CN*R4/R3 Tgδ=106 C4(以F计) =C4(以μF计) 外施耐压试验 外施耐压试验是对绕组连同套管按要求施加高于绕组额定电压一定倍数的工频试验电压值,持续1min的试验。它对考核变压器主绝缘强度,检查局部缺陷,具有决定性作用。考虑到为分级绝缘,试验电压降低到140KV。 额定电压(kV) 出厂试验电压(kV) 交接试验电压(kV) 3 18 15 35 85 47 110 200 170 220 359 340 感应耐压试验 感应耐压试验是用以考核试品绕组匝间、层间、段间及相间的绝缘强度。该试验应在外施耐压试验之后进行。当最高工作电压超过300kV时,可用操作冲击试验代替该试验 试验电压的频率应不小于100Hz,最好频率为150~400Hz 感应试验时,在试验电压的持续时间内,如果电源监视的电压和电流不发生变化,没有放电声,并且在感应耐压试验的前后,空载试验数据无明显差异时,则试品承受了感应耐压的考核,试验合格 E=4.44NfΦm 局部放电 局部放电是由绝缘局部区域内的绝缘弱点造成,它的存在虽不会使电气设备的绝缘立即发生击穿,但它会导致大的发展。局部放电试验是非破坏性试验,检查变压器结构是否合理和工艺水平好坏的重要试验手段,是保证变压器安全运行的重要指标。只要某处场强超过了出现局放的最小场强,就可能导致局放。 主要出现在线圈出线根部 可测量的局放特性:局放的起始电压和熄灭电压、单次局放的视在放电电荷量、每次内放电的脉冲个数等 分级绝缘:相对地和相间 全绝缘:相间 本次试验的试验方案: 预加电压1.1Um/1.732, 试验5min 测量电压1.5Um/1.732,试验5min 加压U1=200KV,试验时间30s(感耐) 测量电压1.5Um/1.732,试验5min 测量电压1.1Um/1.732,试验5min Um为相电压, 1.5Um/1.732=109 KV 线端雷电全波冲击试验 雷电全波冲击试验可以检查变压器每一线端对地、对其他绕组以及被试绕组本身的冲击耐受电压 国家标准规定的雷电全波冲击电压的标准波形为:T1=1.2μs±30%,T2=50μs±20% T1为视在波前时间 T2为视在板峰值时间 雷电全波冲击试验,对绕组所加的电压高压侧冲击电压为480KV,低压侧加200KV,因为是分级绝缘,高压中性点所加电压为325KV。 截波冲击试验时,对绕组所
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