第6部分 过程成分分析技术 1—半导体致冷器; 2—热电偶; 金属膜3:表面镀铬抛光成镜面; 光源4被镜面反射至光敏元件5; 未结露时反光强烈,结露则反射急剧减小; 放大电路6控制电路7输出;露蒸发,反光增强,使加热丝8电流?,重新结露; 循环反复,热电偶2指示膜片的平均温度—露点温度。若测知气体温度,可求得相对湿度。 6.7 过程物性测量分析技术 1、基本概念 物质的密度 :单位体积 内的质量 ,即 单位:克/厘米3、磅/英尺3、磅/加仑和千克/米3等。 液体的相对密度:在同一温度和压力下,液体密度和水的密度之比。它常以15.5℃或4℃作为基准温度。 6.7 过程物性测量分析技术 6.7.2 密度测量 气体的相对密度:在标准温度、压力下(15.5℃和0.102MPa),气体的密度和空气密度之比。 流体的性质、温度和压力均会影响流体的密度。 要精确测量,一般要进行温度补偿。 6.7 过程物性测量分析技术 气体的密度受压力和温度的影响,由理想气体方程修正 理想气体方程: 式中:P是气体的绝对压力; V是气体的体积; n是气体的克分子数; R是气体的常数; T是气体的绝对温度。 气体的密度: 式中,m为分子量,其余符号同上。 式(6.37)代入式(6.38): 6.7 过
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