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第九讲 X荧光光谱法(XRF) XRF之特点 谱线简单 分析灵敏度高:大多数元素检出限达 分析元素范围宽:B~U(5~92) 定量分析线性范围宽:从常量至微量 分析方法的精密度高:误差一般在5%以内 制样简单:固体,粉末,液体,无损分析 分析速度快 X射线荧光光谱仪器种类 波长色散型:分光元件(分光晶体+狭缝);特点:分辨率好,定性分析容易(谱线重叠少);分析元素为 灵敏度低. 能量色散型:半导体检测器;分辨率差,定性较难(谱线重叠多),分析元素为 灵敏度高.需液氮冷却. X射线荧光光谱仪器组成 X射线发生系统:产生初级高强X射线,用于激发样品; 冷却系统:用于冷却产生大量热的X射线管; 样品传输系统:将放置在样品盘中的样品传输到测定位置; 分光检测系统:把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光,检测; 计数系统:统计,测量由检测器测出的信号,同时也可以除去过强的信号和干扰线; 真空系统:将样品传输系统和分析检测系统抽成真空,使检测在真空中进行(避免强度的吸收损失); 控制和数据处理系统:对各部分进行控制,并处理统计测量的数据,进行定性,定量分析,打印结果. 定性分析的步骤 选择测定条件: 测定的X射线: 管电压－管电流：Rh靶　　　　　　3kW 40kV,70mA,4kW40kV,95mA 分光晶体：一般地，F~Mg用TPA晶体，Al~Si用PET晶体，P~Ar用Ge晶体，K~U用LiF晶体． 扫描速度：一般为 定性分析的步骤 谱图解析: 1)除掉靶发射的所有Ｘ射线 2)查找 3)若存在　　　　　，则需进行强度比的计算以确定该元素的存在． 4)微量元素，有时只存在 线. 定量分析的方法 标准工作曲线法 内标法 基本参数法 检出限 * * 利用能量足够高的X射线(或电子)照射试样,激发出来的光叫X射线荧光.利用分光计分析X射线荧光光谱,鉴定样品的化学成分称为X射线荧光分析. X射线荧光分析原理 当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱,特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关,而与激发X射线的能量无关.谱线的强度和元素含量的多少有关,所以测定谱线的波长,就可知道试样中包含什么元素,测定谱线的强度,就可知道该元素的含量. X射线荧光的种类 入射的X射线具有相对大的能量,该能量可以轰击出元素原子内层中的电子. K层空缺时,电子由L层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为 线;从M层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为 线.同理L系X射线也具有 等特征X射线.X射线荧光光谱法多采用K系L系荧光,其他线系较少采用. X射线管 波长色散型X射线荧光分析装置原理 定性分析 基本原理:试样发出的X荧光射线波长与元素的原子序数存在一定关系,即元素的原子序数增加,X射线荧光的波长变短,关系式为 式中K ,S:随不同谱线系列而定的常数;Z:原子序数. 定性分析 从试样发出的X射线荧光具有所含元素的固有波长,该波长可用Bragg公式表示: X射线荧光分析是已知分光晶体的晶面间距d,测定分光晶体对样品发射出的X射线荧光的衍射角 ,然后求出X射线荧光的波长 .由此确定元素的种类,进行元素分析.通常被检测X射线荧光的位置不用波长表示,而是用 表示. 定量分析 因为Ｘ射线荧光分析得到的是相对分析值，所以进行定量分析时需要标样．选定分光晶体和检测器，统计测量样品发出的Ｘ射线荧光的强度，将已知含量的标准样品和未知样品在同一条件下测定，确定未知样品的含量． 基体效应 试样内部产生的X荧光射线,在到达试样表面前,周围的共存元素会产生吸收(吸收效应).同时还会产生X荧光射线并对共存元素二次激发(二次激发效应).因此即使含量一样,由于共存元素的不同,X荧光射线强度也会有所差别,这就是基体效应.在定量分析时,尤其要注意基体效应的影响. 对于固体和粉末样品,轻元素的检出限为50μg/g,重元素为5μg/g.轻元素的灵敏度低是因为它们的荧光产生率(变成X射线的比率)小.