第2章光电检测器件工作原理及特点解答.pptVIP

第二章 光电检测器件工作原理及特性 一、光电效应 光照射到物体表面上使物体发射电子、或导电率发生变化、或产生感应电动势等，这种因光照而引起物体电学特性发生变化的现象称为光电效应。 光电效应包括外光电效应和内光电效应 外光电效应：物体受光照后向外发射电子——多发生于金属和金属氧化物 内光电效应：物体受到光照后，内部电子能量状态产生变化，但不存在表面发射电子的现象——多发生在半导体和绝缘体上 内光电效应又分为光电导效应和光生伏特效应 光电导效应：半导体受光照后，内部产生光生载流子，使半导体中载流子数显著增加而电阻减少的现象 光电检测器件 光电检测器件的特点 一、响应特性 １．响应度（或称灵敏度）：是光电探测器输出信号与输入光功率之间关系的度量。描述的是光电探测器件的光电转换效率。 响应度是随入射光波长变化而变化的 响应度分电压响应度和电流响应度 电压响应度 光电探测器件输出电压与入射光功率之比 电流响应度 光电探测器件输出电流与入射光功率之比 2．光谱响应度：探测器在波长为λ的单色光照射下，输出电压或电流与入射的辐射通量（光通量）之比． 3．积分响应度：检测器对各种波长的辐射光连续辐射通量的反应程度． 4．响应时间：当入射辐射到光电检测器后或入射辐射遮断后，光电检测器的输出上升的稳定值或下降到照射前的值所需的时间为响应时间τ 。 响应时间τ是描述光电探测器对入射光响应快慢的一个参数。 上升时间：10% 90% 下降时间： 90% 10% 二、噪声特性 当入射光功率很低时，光电检测器件的输出是杂乱无章的变化信号，而无法肯定是否有辐射入射到检测器上，这是其固有的噪声引起的。 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。 由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往受探测系统的噪声所限制。 所以在精密测量、通信、自动控制等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题。 光电探测器常见的噪声 热噪声 散粒噪声 产生-复合噪声 闪烁噪声（1/f噪声） 1、热噪声 或称约翰逊噪声，即载流子无规则的热运动造成的噪声。 导体或半导体中每一电子都携带着电子电量作随机运动(相当于微电脉冲)，尽管其平均值为零，但瞬时电流扰动在导体两端会产生一个均方根电压，称为热噪声电压。其均方值为 用热噪声电流表示为 热噪声存在于任何电阻中，热噪声与温度成正比，与频率无关，热噪声又称为白噪声 2、散粒噪声 散粒噪声：或称散弹噪声，即穿越势垒的载流子的随机涨落（统计起伏）所造成噪声。 其均方噪声电流为 特点： 入射到光探测器表面的光子是随机的，光电子从光电阴极表面逸出是随机的，PN结中通过结区的载流子数也是随机的。 散粒噪声也是白噪声，与频率无关。 散粒噪声是光电探测器的固有特性，对大多数光电探测器的研究表明：散粒噪声具有支配地位。 3、产生-复合噪声 半导体受光照，载流子不断产生-复合。 在平衡状态时，在载流子产生和复合的平均数是一定的，但在某一瞬间载流子的产生数和复合数是有起伏的。载流子浓度的起伏引起半导体电导率的起伏。 4、1/f噪声 或称闪烁噪声或低频噪声。 噪声的功率近似与频率成反比 多数器件的1/f噪声在200~300Hz以上已衰减到可忽略不计。 三、量子效率?（?） 量子效率：在某一特定波长上，每秒钟内产生的光电子数与入射光量子数之比。 对理想的探测器，入射一个光子发射一个电子， ?=1 实际上，? 1 量子效率是一个微观参数，量子效率愈高愈好。 四、线性度 线性度是描述光电探测器输出信号与输入信号保持线性关系的程度。 在某一范围内探测器的响应度是常数，称这个范围为线性区。 线性度通常用非线性误差表示： δ　＝　Δmax / ( I2 – I1) Δmax：实际响应曲线与拟合曲线之间的最大偏差； I2 和 I1：分别为线性区中最小和最大响应值。 五、工作温度 工作温度就是指光电探测器最佳工作状态时的温度。 光电探测器在不同温度下，性能有变化。 例如，半导体光电器件的长波限和峰值波长会随温度而变化；热电器件的响应度和热噪声会随温度而变化。 ５、信噪比 信噪比是判定噪声大小的参数。 是负载电阻上信号功率与噪声功率之比 若用分贝（dB）表示，为 * * 2.1 光电检测器件的物理基础 光电效应 光热效应 光 物质 光电效应 光热效应 能量转换 电 热 信息 检 测 1 本征光电导效应 本征光电导是指只有光子能量hv大于材料禁带宽度Eg的入射光，才能发出电子空穴对，使材料产生光电导效应的现象。用公式表示为 因此，本征光电导材料的截止波长为 亦即只有波长小于 的入射辐射才能产生