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材料现代分析方法X射线衍射强度 河北工业大学 材料学院 孙继兵 E-mail: hbgdsjb@126.com Tel: 022X射线衍射强度 第一节 X射线的衍射强度与结构因子 第二节 结构因子的计算 第三节 多重性因子 第四节 罗仑兹因子 第五节 吸收因子 第六节 温度因子 第七节 粉末法的衍射线强度 第一节 X射线的衍射强度与结构因子 一、 X射线衍射强度 X射线衍射强度,在衍射仪上反映的是衍射峰的高低(或积分强度——衍射峰轮廓所包围的面积),在照相底片上则反映为黑度,严格地说就是单位时间内通过与衍射方向相垂直的单位面积上的X射线光量子数目,但它的绝对值的测量既困难又无实际意义。 所以,衍射强度往往用同一衍射图中各衍射线强度(积分强度或峰高)的相对比值即相对强度来表示。 二、结构因子 1、晶胞中原子位置对衍射强度的影响 晶胞中原子位置对衍射强度的影响 考察(001)面的衍射情况。如果散射波的波程差AB+BC=l,则在 方向上产生衍射束。 而对于体心晶胞的(001)面,中间多了一个(002)原子面。(002)面上的原子的反射线波程差(DE+EF)只有 l/2 ,故产生相消干涉而互相抵消。 001反射强度变为零。 同时说明布拉格方程是反射的必要条件,而不是充分条件。 2、原子种类、数量的影响 由于原子种类不同,对X射线散射的波振幅也不同 ;干涉后强度也要减小,在某些情况下甚至衍射强度为零,衍射线消失。 参与衍射的原子数量不同,对衍射线强度的贡献也不同。 3、结构因子 1)系统消光;把因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象称之为“系统消光”。根据系统消光的结果以及通过测定衍射线的强度的变化就可以推断出原子在晶体中的位置。 2)结构因子:定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数称为结构因子(structure factor) 第二节 结构因子的计算 一、一个电子对X射线的散射 二、一个原子对X射线的散射 三、一个单胞对X射线的散射 四、单胞对X射线的散射-点阵消光 五、单胞对X射线的散射-结构消光 一、一个电子对X射线的散射 电子在入射X射线电场矢量的作用下会产生受迫振动,并作为新的波源向四周辐射与入射线频率相同并具有确定位相关系的电磁波。 根据电磁波理论,原子对X射线的散射主要是由核外电子而不是原子核引起的,因为原子核的质量很大,相比之下电子更容易受到激发产生振动。 X射线在电子上产生了波长不变的相干散射。 电子对X射线衍射的强度 ■ 被电子散射的X射线是射向四面八方的,其强度I的大小与入射束的强度和散射的角度有关。 ■ 汤姆逊(J.J.Thomson)首先用经典电动力学研究相干散射。按照汤姆逊的工作,一个电子对一束强度为I0的偏振化的入射线散射波的强度Ie为: 材料衍射工作中,通常采用非偏振X射线为入射光。 由于非偏振光的光矢量E0在垂直于传播方向的固定平面内指向任意方向。因此,可将其分解为互相垂直的两束偏振光,光矢量分别为E0z与E0x。 为简化问题,设E0z与入射光传播方向(oy)及所考察散射线(op)在同一平面内。 光矢量的分解遵从平行四边形法则,有 光强度(I)正比于光矢量振幅的平方I?E2; 衍射分析中只考虑相对强度,故可I=E2, 对于光矢量为E0z的偏振光X射线入射,电子散射强度为 对于光矢量为E0x的偏振光X射线入射,电子散射强度为 根据光合成的平行四边形法则,Ie=Iex+Iez 二、一个原子对X射线的散射 如果原子中所含Z个电子都集中到一点,则各电子散射波之间将不存在位相差,从而可简单叠加,故一个原子散射X射线的强度为:Ia = (Aa)2 = (ZAe)2 = Z2 Ie 即一个原子散射波的强度是一个电子散射波强度的Z2倍。 事实是: 原子序数为Z的原子中的Z个电子是按照电子云分布规律分布在原子空间的不同位置上的,所以,在某个方向上同一原子中的各个电子的散射波的位相不可能完全一致。 两个电子A和B在XX’方向上(2?=0)的散射波所经过的路程相同 ; YY’方向上不同的电子散射的X射线存在光程差,原子半径的尺度比X射线波长?的尺度要小,所以不可能产生波长整数倍的位相差。 f值 f 反映的是一个原子将X射线向某个方向散射时的散射效率, 它与sin?和?有关,规律是:随sin?/?值减小而增大 。 三、一个单胞对X射线的散射 1、结构因子求解推导过程: 假设该晶胞由N个原子组成,各个原子的散射波的振幅和位向是各不相同的,则单胞中所有原子散射波的合成振幅应当和原子自身的散射能力(原子散射因子f)、与原子相互间的位相差?以及与单胞中原子个数N有关。 已知各原子的散射因子为:f1 、f2 、f3 ...fn; 那
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