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ch01模拟集成电路设计绪论研讨

版图设计与验证 布局:安排模块位置(面积/速度/指标) 电源分布 信号耦合 天线效应 电磁兼容性 可控硅效应 静电保护 焊盘位置、封装 测试探针 版图设计过程中的注意事项: 保证元件参数的变化量在合适的范围 保持元件之间的匹配(使相关元件有相似的变化趋势,如:温度、几何形状、隔离、接触孔…) 减小分布参数(缩短信号线长度、减小耦合电容…) 提供足够的电流密度裕量 注意噪声的消除(信号屏蔽、器件隔离…) 减小芯片面积 设计规则检查(DRC) 对版图进行几何规则检查,使得设计的电路可以被制造出来。 电气规则检查(ERC) 检查电源地的短路,开路,浮空的器件、浮空的网络… 一致性校验(LVS) 检查版图和电路图的一致性 RC分布参数提取 版图最终设计结果 一些应该掌握的基本概念、方法 基本理论: KCL,KVL 戴维南定理、诺顿定理 电阻、电容基本特征 信号、时域、频域分析 小信号分析、模型及参数 放大器的四种模型 (1) 放大器的四种模型 (2) 放大器的四种模型 (3) 放大器的四种模型 (4) Avo Ais Gm Rm Avo= Ais= Gm= Rm= 各种放大器模型间的变换 放大器 信号源 信号源内阻 负载 放大器及外围电路 放大器固有参数: 放大器参数: 频率响应初步 1 系统传递函数F(s) 2 极点和零点 Z1,Z2,…,Zm称为传递函数的零点 P1,P2,…Pn称为传递函数的极点 am乘积系数(直流增益) 3 幅频特性、相频特性、波特图 4 波特图 大信号分析及参数 1 工作点 对于CMOS放大器其工作点(栅、源、漏极)的电压应当使得起放大作用的MOS管进入饱和区。 从工作点分析可以得到栅、源、漏极电压的变化范围、输入信号和输出信号允许的变化范围。 2 输入信号幅度 输入小信号的变化范围应当小于放大管的过驱动电压的5分之一。 3 输出信号幅度 输出小信号的变化范围应当在工作点分析得到的允许变化范围之内 4 功耗 CMOS放大器的平均功耗为直流工作点的漏极电流导致的功耗。 * 模拟CMOS集成电路设计 张博 zhangbo@xupt.edu.cn 模拟CMOS集成电路设计 [美] 理查德·拉扎维 著 西安交通大学出版社 第一章 模拟集成电路设计绪论 自然界信号的处理 (a)自然界信号的数字化 ( b)增加放大器和滤波器以提高灵敏度 高速、高精度、低功耗ADC的设计是模拟电路设计中的难题之一 高性能放大器和滤波器设计也是热点研究课题 数字通信 数字信号通过有损电缆的衰减和失真 失真信号需放大、滤波和数字化后才能处理 数字通信 使用多电平信号以减小所需的带宽 10 11 01 00 1 0 组合二进制数据 多电平信号 确定所传送电平 DAC ADC 传送端 接收端 磁盘驱动电子学 存储数据 恢复数据 硬盘存储和读出后的数据 无线接收机 无线接收天线接收到的信号(幅度只有几微伏)和噪声频谱 接收机放大低电平信号时必须具有极小噪声、工作在高频并能抑制大的有害成分。 光接收机 光纤系统 转换为一个小电流 高速电流处理器 激光二极管 光敏二极管 传感器 (a) 简单的加速度表 (b) 差动加速度表 汽车触发气囊的加速度检测原理图 为什么是模拟CMOS集成电路设计 首先,MOSFET的特征尺寸越来越小,本征速度越来越快(已可与双极器件相比较),现在几GHz~几十GHz的CMOS模拟集成电路已经可批量生产。 SOC芯片中同时包含有大量的模拟、数字电路,由于CMOS以其低成本、低功耗已成为现代大规模数字集成电路设计及制造的首选,与数字集成电路技术兼容的CMOS模拟集成电路技术可降低SOC芯片的制造及封装成本。因此CMOS电路已成为当今SOC设计的主流制造技术。 CMOS技术的发展及展望 时间 1980 1983 1982 1989 1995 2001 2004 2010 L(μm ) 3.0 2.0 1.2 0.5 0.35 0.18 0.13 0.07 电源电压(V) L 模拟设计困难的原因 模拟设计涉及到在速度、功耗、增益、精度、电源电压等多种因素间进行折衷,而数字电路只需在速度和功耗之间折衷。 模拟电路对噪声、串扰和其它干扰比数字电路要敏感得多。 器件的二级效应对模拟电路的影响比数字电路要严重得多。 高性能模拟电路的设计很少能自动完成,而许多数字电路都是自动综合和布局的。 模拟设计困难的原因 模拟电路许多效应的建模和仿真仍然存在问题,模拟设计需要设计者利用经验和直觉来分析仿真结果。 现代集成电路制造的主流技术是为数字电路开发的,它不易被模拟电路设计所利用(如特征尺寸减小导致器件迁移率下降、沟道调制效应增大;电源电压的下降使以前的一些电路设计技术受到限制等),为了设计高性能的模

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