CPK名词定义.doc

  1. 1、本文档共5页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
CPK名词定义

製程能力分析  製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度,以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上,作為製程持續改善的依據。製程能力研究的時機分短期製程能力研究及長期製程能力研究,短期著重在新產品及新製程的試作、初期生產、工程變更或製程設備改變等階段;長期以量產期間為主。製程能力指標 Cp 或 Cpk 之值在一產品或製程特性分配為常態且在管制狀態下時,可經由常態分配之機率計算,換算為該產品或製程特性的良率或不良率,同時亦可以幾 Sigma 來對照。 計數值統計數據的數量表示 缺點及不良(Defects VS. Defectives)   缺點代表一單位產品不符要求的點數,一單位產品不良可能有一個缺點或多個缺點,此為計點的品質指標。例如描述一匹布或一鑄件的品質,可用每公尺棉布有幾個疵點,一鑄件表面有幾個氣孔或砂眼來表達,無塵室中每立方公尺含微粒之個數,一片PCB有幾個零件及幾個焊點有缺點,一片按鍵有幾個雜質、包風、印刷等缺點,這些都是以計點方式表示一單位產品的特性值。不良代表一單位產品有不符要求的缺點,可能有一個或一個以上,此將產品分類為好與壞、良與不良及合格與不合格等所謂的通過-不通過(Go-NoGo)的衡量方式稱為計件的品質指標。例如單位產品必須以二分法來判定品質,不良的單位產品必須報廢或重修,這是以計件方式來表示一單位產品的特值。每單位缺點數及每百萬機會缺點數(DPU VS. DPMO)一單位產品或製程的複雜程度與其發生缺點的機會有直接的關係,越複雜容易出現缺點;反之越簡單越不容易出現缺點。因此,以每單位缺點數(DPU)來比較複雜程度不同的產品或製程品質是不公平的,在管理上必須增加一個衡量產品或製程複雜程度的指標,Six Sigma 以發生缺點的機會(Opportunities)來衡量。 DPU 是代表每件產品或製程平均有幾個缺點,而DPMO 是每檢查一百萬個機會點平均有幾個缺點。一個機會點代表一產品或製程可能會出現缺點的機會,它可能是一個零件、特性、作業等等。先進的Six Sigma推廣機構建義下列幾個規則依其複雜程度來計算一個產品或製程出現缺點的機會數(Opportunities)。 單位缺點數(DPU):DPU=總缺點數/總檢驗單位數=Defects/Units 一般產品只要有一個缺點就應視為不良品,但是一個不良品可能有一個以上的缺點,因此以平均每件幾個缺點較能完全表示品質,以DPU(Defects Per Unit)為單位。 DPMO=(總缺點數/總缺點機會數)×106 =Defects/(Opportunities/Unit×Units) ×106 一般不同產品的每件檢點數不同,檢點數愈多,出現缺點的機會越多,DPU就可能愈大,以DPU的大小來比較產品品質的好壞似乎不太合理,除非這些產品的複雜程度差不多,因此用總出現缺點的機會數數與總缺點數之比來比較品質會客觀一點,以DPMO(Defects Per Million Opportunities)為單位。 DPU 是代表每件產品或製程平均有幾個缺點,而DPMO 是每檢查一百萬個機會點平均有幾個缺點。一個機會點代表一產品或製程可能會出現缺點的機會,它可能是一個零件、特性、作業等等。先進的Six Sigma推廣機構建義下列幾個規則依其複雜程度來計算一個產品或製程出現缺點的機會數(Opportunities)。  製程能力指數Ca或k(準確度;Accuracy): 表示製程特性中心位置的偏移程度,值等於零,即不偏移。值越大偏移越大,越小偏移越小。 製程準確度Ca(Caoability of Accuracy)標準公式 簡易公式   T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差 ?PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值,故不計算Ca ?製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca   (Xbar - μ)  (實績平均值 - 規格中心值)Ca(k) =──────? =───────────  (T / 2)  (規格公差/2)T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差 PS. HYPERLINK .tw/Principle/Cpk1.htm \t _self 製程特性定義   單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值,故不計算Ca   製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca 當Ca = 0 時,代表量測製程之實績平均值與規格中心相同;無偏移 當Ca = ±1 時,代表量測製程之實績平均值與規格上或下限相同;偏移100%評等參考 :Ca值愈小,品質愈佳。依Ca值大小可分為四級   等級Ca值處理原則A  0  ≦ |Ca| ≦ 12.

文档评论(0)

cbf96793 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档