物理光学-光的干涉303课程方案.pptVIP

分振幅法（平板干涉）优点;分振幅法;一、干涉条纹的定域 两个单色相干点光源在空间任意一点相遇，总有一确定的光程差，从而产生一定的强度分布，并都能观察到清晰的干涉条纹，称为非定域干涉。;1.条纹定域：;由空间相干性理论，在P点观察到干涉条纹条件;定域在无穷远处(或透镜焦平面)的图示;二、平行平板产生的等倾干涉;由折射定律和几何关系可得出：;2.平板干涉装置 注意：采用扩展光源，条纹定域在无穷远。 条纹成像在透镜的焦平面上。; 圆形等倾条纹;面光源照明;光源上每一点都给出一组等倾条纹，它们彼此准确重合，没有位移;3、条纹分析; ; ; ;中央条纹疏，边缘条纹密。平板愈厚条纹也愈密。; ; ; ;(1)平板由A处移到B处，观察到有10个暗环向中心收缩并一一消失，试决定A处和B处对应的平板厚度差。;解（1）由平板干涉的光程差公式;解（2）光源的相干长度为;例题 一平板玻璃(n=1.50)上有一层透明油膜(n=1.25)，要使波长?=600nm的光垂直入射无反射，薄膜的最小膜厚e ;例题 阳光垂直照射在空气中的肥皂膜上，膜厚e=380nm, 折射率n2=1.33 ，问：肥皂膜的正面和背面各呈什么颜色？;背面透射加强=反射减弱，于是有;第六节 楔形平板产生的干涉（等厚干涉）;定域深度; 眼睛瞳孔对光束的限制 ;图3.44 楔形平板的干涉;它是厚度 h 的函数，在同一厚度的位置形成同一级条纹。;（1）;Dh;（3）条纹间距;干涉条纹分布的特点：; 测细小直径、厚度、微小变化;(1)检测待测平面的平整度;(2).测量微小物体的厚度;(3). 测量微小角度.;例题 在检测某工件表面平整度时,在工件上放一标准平面玻璃,使其间形成一空气劈尖，并观察到弯曲的干涉条纹，如图所示。求纹路深度H。;例题2-19 制造半导体元件时,常常需要精确地测量硅片上的二氧化硅(SiO2)薄膜的厚度,这时可用化学方法把二氧化硅薄膜一部分腐蚀掉,使它成为劈尖状。已知SiO2和Si的折射率分别为n2=1.57和n3=3.42,所用波长为?=6000?，观察到劈尖上共出现8条暗纹,且第八条暗纹恰好出现在斜面的最高点。求SiO2薄膜的厚度。;（三）牛顿环;当以单色光垂直照射时，在空气层上会形成一组以接触点 O 为中心的中央硫、边缘密的圆环条纹，称为牛顿环。它的形状与等倾圆条纹相同，但牛顿环内圈的干涉级次小，外圈的干涉级次大，恰与等倾圆条纹相反。;若由中心向外数第 N 个暗环的半径为 r，则由牛顿环的实验图可知;因第 N 个暗环的干涉级次为(N + l/2)，故可由暗环满足的光程差条件写出;应用: 牛顿环除了用于测量透镜曲率半径之外，还常用来检验光学零件的表面质量。常用的玻璃样板检验法就是利用与牛顿环类似的干涉条纹。这种条纹形成在样板和待测零件表面之间的空气层上，俗称为“光圈”。根据光圈的形状、数目以及用手加压后条纹的移动，就可以检验出零件的偏差。;例如，当条纹是图所示的同心圈环时，表示没有局部误差。假设零件表面的曲率半径为R1，样板的曲率半径为 R2，则二表面曲率差?C=1/R1 - 1/R2。 由图的几何关系有;如果零件直径 D 内含有 N 个光圈;;例题 如图所示，平板玻璃由两部分组成(冕牌玻璃n=1.50，火石玻璃n=1.75)，平凸透镜用冕牌玻璃制成，其间隙充满二硫化碳(n=1.62)，这时牛顿环是何形状?;(2) 对于左边，由于1.50 1.62 1.75 ，因此入射光小角度入射时，从空隙上下表面反射的两束光的光程差无半波损失，即;例题 在观察牛顿环时，用?1＝0.5?m的第6个亮环与用?2的第7个亮环重合，求波长?2＝?;;例题 如图，检查待测工件与标准工件是否吻合时，牛顿环观察到的暗条纹有两条 。 求：(1) 待测工件与标准工件间的最大缝隙？(2) 轻微挤压标准工件时，如果环纹向外扩张（或收缩），那么，标准工件与待测工件的半径有何关系？ ;;第七节 典型的双光束干涉系统及其应用 一、典型干涉系统;a;? 测量平行平板的平行度和小角度光楔的楔角;;小结： 基本特点：（1）属于等厚干涉;2、迈克尔逊干涉仪 （The Michelson interferometer）;; 若M1、M2平行 ? 等倾条纹;等 倾 干 涉 条 纹;当M1每平移λ/2 时，将看到一个明（或暗）条纹移过视场中 某一固定直线，条纹移动的数目N与M1 镜平移的距离关系为：; 迈克耳逊干涉仪的两臂中便于插放待测样品，由条纹的变化测量有关参数，精度高。 在光谱学中，应用精确度极高的近代干涉仪可以精确地测定光谱线的波长及其精细结构； 在天文学中，利用特种天体干涉仪还可测定远距离星体的直径以及检查透镜和棱镜的