测试方法004详解.ppt

材料分析测试技术 ;绪 论;我们研究材料就是通过改变材料的组成、结构、组织，来达到提高和改善材料的使用性能的目的。;在材料四面体中，生产工艺决定晶体结构和显微组织。材料科学与材料工程的区别就在于：材料科学主要研究四组元之间的关系；而材料工程则研究如何利用这四组元间的关系来研究开发新材料、新产品。 ;本课程的内容:;在材料研究中,做形貌和结构分析一般可根据分析目的选用下面的分析方法:;1.化学组成分析：;2.微观结构分析;3.显微组织分析;二、学习本课程的目的：;参考书：;第一章 X射线衍射分析; 第一节： X射线 的物理基础 一、 X射线的性质 1、 X射线的性质 2、 X射线的获得 二、 X射线谱 1、定义 2、分类 三、 X射线与物质的相互作用 四、 X射线的衰减;一、 X射线的性质 ;X射线的本质：属于电磁波 波长：10-2—102埃之间，介于?射线和紫外线之间;3、 X射线的发生 ?在高压作用下，阴极灯丝产生的电子在真空中以极高的速度撞向阳极靶时，将产生X射线。 ?阳极靶的材料一般用重元素如：Cr、Fe、Co、Cu、Mo、Au、W等，常规实验使用Cu靶。;二、 X射线谱;（1）连续的X射线谱 具有从某个最短波长（短波极限λ0）开始的连续的各种波长的X射线（即：波长范围为λ0~λ∝）。 由高速运动的带电粒子受阳极靶阻碍（突然减速）而产生。;连续射线的总强度与管电压、管电流及阳极材料（一般为钨靶）的原子序数有下列关系： I连续=kiZVm;（2）特征的X射线谱 由若干条特定波长的谱线构成。 当管电压超过一定的数值（激发电压V激）时产生。这种谱线的波长与X射线管电压、管电流等工作条件无关，只决定于阳极材料，不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。因此叫特征X射线。;; Kα射线的强度大约是Kβ射线强度的5倍，因此，在实验中均采用Kα射线。实验中发现Cu靶的Kα谱线的强度大约是连续谱线及临近射线强度的90倍。 Kα谱线又可分为Kα1和Kα2， Kα1的强度是Kα2强度的2倍，且Kα1和Kα2射线的波长非常接近，仅相差0.004?左右，通常无法分辨，因此，一般用Kα来表示。但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。;特征X射线谱产生的原因：原子内层电子的跃迁。;入射X射线;1、散射现象;2、光电吸收（即光电效应） 内层电子吸收X射线光子的能量，使之成为具有一定能量的光电子，原子处于高能激发态， X射线光子被吸收，这种过程叫光电吸收或光电效应。 （1）、荧光X射线：是由X射线激发出的二次X射线，不同的元素被激发的荧光X射线波长不同。 X射线荧光光谱仪就是据此进行元素成分分析的。 （2）、俄歇效应：用俄歇效应可分析试样的成分和表面状态等很多信息。现在也有专门的俄歇谱仪以及与电子显微镜联用的俄歇分析仪。;四、 X射线的衰减;穿过物体后的强度可表示如下： I=I0e-?m ?x 多种元素组成的吸收体其质量吸收系数是其 组成元素的质量吸收系数的加权平均值： ?m =?1 ?m1 + ?2 ?m2 + ?3 ?m3 + ···· ?1 、 ?2 、 ?3 ：吸收体中各元素的质量百分数。 元素的质量系数与入射波长有以下关系;?m;2、X射线滤波片;阳极靶的选择;作业;第二节： 晶体的点阵结构 关于晶体的基本知识，在“材料科学基础”中已经学过，因此，本节我们共同复习一下有关晶体的一些概念，包括晶体和非晶体、点阵和单位点阵（单胞）、点阵参数和密勒指数（晶面指数）、晶系和布拉菲点阵、多重性因子与晶面族、点阵中的晶向和晶面间距等。;晶体是内部质点在三维空间成周期性排列的固体，或者说晶体是具有格子构造的固体。也可定义为具有各向异性物理化学性质的均匀物质.;1.2.2 点阵和单位点阵（单胞）;1.2.3 点阵参数和密勒指数（晶面指数）; 晶系（7种）;1.2.5 多重性因子与晶面族;1.2.6点阵中的晶向和晶面间距;二、晶面间距和晶面夹角的计算;三、晶带;第三节、 X射线的衍射方向; X射线衍射理论能将晶体与衍射花样有机地联系起来，它包括衍射线束的方向、强度和形状。 衍射线束的方向由晶胞的形状大小决定，衍射线束的强度由晶胞中原子的位置和种类决定，而衍射线束的形状大小与晶体的形状大小相关。 在讨论一个小晶体的衍射强度时，可以引出衍射线束的方向和形状，即这三者是一个有机的整体。为了便于理解和掌握，先讨论衍射线束的方向。; 1、Laue方程 2