6宏观残余应力测定总汇.pptVIP

;§6-1 物体内应力的产生与分类; 二．内应力的分类及产生原因 a. 第一类内应力（σⅠ）：在物体在宏观体积内存在并平衡的内应力。此类应力的释放会使物体的宏观体积或形状发生变化。也称宏观应力或残余应力。宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。 原因：比如零件在热处理、焊接、表面处理、塑性变形加工。;b．第二类内应力（ σⅡ）微观应力：在物体中数个晶粒范围内存在并保持平衡的应力。其衍射效应主是引起线形的变化；特殊：也引起衍射线位移。 原因：由于弹性变形时晶格会发生弹性的弯曲、扭转、拉伸等，变形消失后残留的内应力，或者由于温度变化引起的。;c．第三类内应力（ σ Ⅲ）： 指在若干个原子尺度范围内平衡着的应力， 如各种晶体缺陷（位错线附近、空位等）周围的应力场及析出相周围、晶界附近，或复合材料界面处等。作用范围为纳米~微米级。使衍射线强度降低。 原因：由于不同种类的原子的移动、扩散、原子的重新排列使晶格畸变所造成的。;三类应力的相互关系;三.用X-ray测宏观残余应力的优点及缺点;;一、 单轴应力测定原理 ;单轴应力测定原理;应力σy的作用方向如上图示，假设某晶粒中 （hkl）晶面垂直于拉伸方向Y轴： 晶面间距 d0——无应力时 dn′——有σy作用时 应变： 从实验技术上，还无法测出dn′因此再作如下处理：; 假设表面有一晶粒中（hkl）面与表面平 行，则在σy作用下，d0减小到dn，则： 只要求出△d/d，即可求出σy。 而△d/d = - cotθ·△θ； 即：通过X-ray衍射，求出该晶面对应衍射线位移△θ即可。;二、 平面应力测定原理;; 因此，对于一定方位晶面面间距dφψ在应力σφ的作用下，沿其面法线方向的弹性应变为： ;1、自由表面的法线方向的应力为零； 2、物体内应力沿垂直于表面的方向变化梯度极小； 3、X-ray的穿透深度很浅（10?m数量级）。 建立三维坐标系如下图示 O-XYZ是主应力坐标系，分别代表主应力（ σ1、σ2、σ3）和主应变（ ε1 、ε2 、 ε3 ）的方向。 O－xyz是待测应力σφ及与其垂直的σy 、σz的方向。;;根据弹塑性力学原理，对于一个连续、均质、各项同性的物体，任一方向上的应变可表达为：;将等式左边对sin2ψ求导得：;实用公式：;;将上式中的2θφ ψ用度表示则有：;三）、被测物体偏离平面应力假设; 由应力测定的基本公式：σφ= KM 可知，若测得M，根据测试条件取应力常数K，即可求得测定方向平面内的宏观应力值，因此关键是M的测定。一般步骤如下： ⑴ 使X射线从几个不同的ψ角入射（ ψ角已知）， 并分别测取各自的2θφ ψ （衍射角）。;注意：每次反射都是由与试样表面呈不同 取向的同种（hkl）面所产生的（如在无应力状态下，各衍射角都相同，但有应力存在时，各方向变形不同，故2θφ ψ 角也各不相同）。 因此2θφ ψ的变化反应了试样表面处于不同方位上同种（hkl）晶面的面间距的改变。 ;（2）作出2θφ ψ - sin2 ψ的曲线。 求出斜率M，即可求出σφ。 当 M0 材料表面为拉应力 M0 材料表面为压应力 ;衍射仪法测定2θφ ψ - sin2ψ曲线常用方法有两种： 一. 0°－ 45°法（两点法） 取ψ（ ψ0) 为0°和45°（或其他两个适当的角度），分别测量2θφ ψ ，作直线求M值； 适用范围： 已知2θφ ψ - sin2ψ关系呈良好线性或测量精度要求不高的工件。 ;;衍射仪法残余应力测定时的测量几何关系;Ⅲ. 测定 ψ = 45°： 样品连同样品台顺时针转动45°，转动时与计数器“脱钩”，即计数器保持不动；计数仍在2θ。附近（与样品台）连动扫描，此时记录的衍射线是样品中其法线与样品表面法线夹角ψ为45°的（211）晶面所产生的，测出此时的衍射角 2θφ ψ =155.96°； Ⅳ. 计算M值： ; 思考：为什么在不同方位上测出的（211）晶面的衍射角不同？若无应力时，各方位的（211）晶面的衍射角是否相同？; 为尽量避免测量时的误差，多取ψ 方位进行测量，用最小二乘法求出2θφ ψ - sin2ψ 直线的最佳斜率。 一般ψ=0°、25°、35°、