扫描近场光学显微镜概论.pptVIP

扫描近场光学显微镜;主要内容; 扫描近场光学显微镜（SNOM——Scanning Near-field Optical Microscopy）是依据近场探测原理发展起来的一种光学扫描探针显微（SPM）技术。其分辩率突破光学衍射极限，达到10 ~ 200 nm。在技术应用上， SNOM为单分子探测，生物结构、纳米微结构的研究，半导体缺陷分析及量子结构研究等多个领域提供了一种有力的工具；在物理上，它将量子光学、波导光学、介关物理等多个学科联系在一起，并由此开辟了一个新的光学研究领域——近场光学（ Near-field Optics）。;SNOM的发展历史及国内外的研究现状; 目前，在我国较有影响的国外产品有： 美国Thermo Microscopes，Inc公司的SNOM，德国OMICRON Vakuunphysik GmbH公司的Twin-SNOM等。国内已有清华大学、北京大学、大连理工大学以及上海光学仪器研究所等多家研究小组在开发或研制扫描近场光学显微镜，研制光纤探针??小组更多。;SNOM的原理; 常规的光学方法：探测元件（如镜头）则位于远远大于波长的远场中，由于衍射效应，只能获得由传播场携带的大于波长一半的结构信息。 近场光学显微镜：光学探针尖端的孔径远小于光的波长。当把这样的亚波长光孔放置在近场区域