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集成电路制造工艺;集成电路设计与制造的主要流程框架;芯片制造过程;芯片制造过程;图形转换:将设计在掩膜版上的图形转移到半导体单晶片上
掺杂:根据设计的需要,将各种杂质掺杂在需要的位置上,形成晶体管、接触等
制膜:制作各种材料的薄膜;一、图形转换:光刻;
光刻机;光刻三要素:光刻胶、掩膜版和光刻机
光刻胶又叫光致抗蚀剂,它是由光敏化合物、基体树脂和有机溶剂等混合而成的胶状液体
光刻胶受到特定波长光线的作用后,导致其化学结构发生变化,使光刻胶在某种特定溶液中的溶解特性改变
正胶:分辨率高,在超大规模集成电路工艺中,一般只采用正胶
负胶:分辨率差,适于加工线宽≥3?m的线条;正胶:曝光后可溶
负胶:曝光后不可溶;光刻过程:
第一步:涂胶
第二步:预烘;
第三步:曝光
第四步:显影
第五步:后烘;几种常见的光刻方法
接触式光刻:分辨率较高,但是容易造成掩膜版和光刻胶膜的损伤。
接近式曝光:在硅片和掩膜版之间有一个很小的间隙(10~25?m),可以大大减小掩膜版的损伤,分辨率较低
投影式曝光:利用透镜或反射镜将掩膜版上的图形投影到衬底上的曝光方法,目前用的最多的曝光方式;超细线条光刻技术
甚远紫外线(EUV)
电子束光刻
X射线
离子束光刻;图形转换:刻蚀技术;图形转换:刻蚀技术;干法刻蚀;二、杂质掺杂;扩 散;杂质横向扩散示意图;固态源扩散:如B2O3、P2O5、BN等;;利用液态源进行扩散的装置示意图;;离子注入;离子注入系统的原理示意图;离子注入到无定形靶中的分布情况;掺杂工艺存在的主要问题:对衬底晶格的损伤。
离子注入后,一般都要经过退火处理。;退 火;三、制膜 1、氧化工艺;氧化硅层的主要作用;SiO2的制备方法;进行干氧和湿氧氧化的氧化炉示意图;;2、化学汽相淀积(CVD);化学汽相淀积(CVD);APCVD反应器的结构示意图; LPCVD反应器的结构示意图;平行板型PECVD反应器的结构示意图;化学汽相淀积(CVD);化学汽相淀积(CVD);3、物理气相淀积(PVD);蒸发原理图;;;小结:集成电路工艺;3-2 接触与互连;接触孔和通孔
;3-3 芯片封装??艺;(1)封装工序流程;(2)管芯分割工艺; (3)芯片粘贴;(4)引线键合; (5)模压(塑封)
(6)封装分类;
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