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SPC统计制程管理办法文件编号HFS8Q/C0102/A00版 本A00页 号 PAGE 10/9作 成：确 认：/承 认
林立精密工业（苏州）有限公司
目的:
运用SPC管理手法使公司产品的质量更好,从而提高公司的质量管理水平。
范围:
本公司在开发试产,量产制程,出货阶段选择适当的控制图.
三、 权责:
3.1品管部:负责制程中各项管制表的制作,记录。制程中随机收集数据分析CPK值。
3.2制造部:对制程中的不良情况改进，活用统计数据实施纠正或改善活动。
3.3技术部:给客户送样时,负责送样品的CPK的制作和分析.
当生产制程出现不良情况时,解决模具上的原因.
四.内容：
4.1建立X-R管制图之步骤：
4.1.1建立解析用管制图：
1)管制项目之选定：在制程中选择对产品品质特性，有重要影响之要因或重要品质
特性作为管制项目；例如：模具冲切产品尺寸、贴合偏移等。
2)搜集数据：每组所含之样本个数称为样本数，以n表示；样本之组数以k表示，
n=2~5之间最为适当。
3)计算各组数据： X = X1+X2…X5/5，R = 最大值 - 最小值
4)计算总平均值：
X ＝ ΣX
k
( ΣX为平均值总和，k为组数 )
5)计算全距平均值：
R ＝ ΣR
k
（ ΣR为全距总和，k为组数 ）
6)计算X图管制界线：CLx = X，UCLx = X+A2R，LCLx = X-A2R
7)计算R图管制界线：CLR = R，UCLR = D4R，LCLR = D3R
8)绘制管制界线：依（F.及G.项）计算所得之数据，将中心线（CL）以蓝色实线表示，管制上限（UCL）及管制下限（LCL）以红色虚线表示，分别绘入X图及
R图上。
9)点图：依（C.项）计算各组X及R所得之数据，分别点绘在X图及R图之适当位
置，其相邻两点间以直线相连接之。
10)检讨及改善：
当CPK值≧1.33时，品管课应将该X-R解析用管制图转为X-R管制用管制图。
4.1.2建立管制用管制图：
1)记入基本资料：将制程名称、制程参数或品质特性、规格、制造部门、机器号码
及抽样方式等必要之基本资料，填入管制图中。
2)绘制管制界限：将经解析后之中心线（CL）以黄色实心线表示，管制上限（UCL）
及管制下限（LCL）以红色表示，分别绘入X图及R图上。
3)搜集数据：由品管课检验人员，依生产时间顺序及依规定之抽样方法进行量测及
数据搜集，并记录于「X-R管制图」。
4)管制图判定：点入图内之点子，如在管制界限内，则判定制程安定，可继续生产，
如有点超出管制界限时，则判定制程有不正常原因侵入。
4.2建立X-Rm管制图之步骤：
4.2.1建立解析用管制图：
1)管制项目之选定：在制程中选择对产品品质特性有重要影响之要因或重要之制程参数作为管制项目；
2)搜集数据：依生产时间顺序及依规定之抽样方法进行量测及搜集数据，并记录
于「X-Rm管制图」。
3)计算各组数据：某时段所搜集之值X，Rm（全距）= Xi-Xi+1 。
4)计算总平均值：
X ＝ Σ X
K （ Σ X为各组数据总和，k为组数 ）
5)计算全距平均值：
Rm ＝ Σ Rm
K － n ＋ 1
（ Σ R为全距总和，k为组数 ）
6)计算X图管制界线：CLx = X，UCLx = X+E2Rm，LCLx = X- E2Rm。
7)计算Rm图管制界线：CLRm=Rm，UCLRm=D4Rm，LCLRm=D3Rm。
8)绘制管制界线：依6）及7）计算所得之数据，将中心线（CL）以蓝色实线表示，管制上限（UCL）及管制下限（LCL）以红色虚线表示，分别绘入X图及Rm图上。
9)点图：依3)项计算各组X及Rm所得之数据，分别点绘在X图及Rm图之适当位
置，其相邻两点间以直线相连接之。
4.2.2建立管制用管制图：
(1)记入基本资料：将
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