第4章-表面手段1-SEM教程方案.pptVIP

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第四章——表面分析手段 ;Complexity of Real Surfaces(复杂性);是英雄还是装备?这不是一个问题!;选择学校的另一个标准-分析测试中心;选择学校的另一个标准-分析测试中心;选择学校的另一个标准-分析测试中心;;选择学校的另一个标准-分析测试中心;;;表面分析的两个方面 Surface Sensitivity and Specificity;Surface Sensitivity and Specificity;Surface Science methods;Methods for surface analysis;Methods for surface analysis;Surface Analytical Techniques;Surface Analytical Techniques;;4.1 Scanning electron microscopy 扫描电子显微镜;4.2 Scanning electron microscopy Noble Prize!;It is a microscope that produces an image by using an electron beam that scans the surface of a specimen inside a vacuum chamber. SEM是用在真空腔中用电子束扫描样品表面,从而得到图像的显微镜。 ;What can we study in a SEM? 我们从SEM可以得到什么? Morphology 形貌 Chemistry 化学成分 ;4.1 Scanning electron microscopy What does it looks like….;4.1 Scanning electron microscopy;4.1 Scanning electron microscopy;4.1 Scanning electron microscopy;4.1 Scanning electron microscopy Where does the signals come from? ;4.1 Scanning electron microscopy;4.1 Scanning electron microscopy Secondary electrons (SE)二次电子 ;4.1 Scanning electron microscopy Backscattered electrons (BSE) 背散射电子 ;4.1 Scanning electron microscopy BSE vs SE ;;4.1 Scanning electron microscopy X-rays ;4.1 Scanning electron microscopy X-rays ;4.1 Scanning electron microscopy X-rays ; Fig. 2 EDS graphic of uncoated AZ91 magnesium alloy.; Fig. 3 EDS graphic of TiN coated AZ91 magnesium alloy.;4.1 Scanning electron microscopy X-rays ; Fig.?8 FESEM image and EDX spectrum of Rh/ZrO 2 films prepared at a Rh/Zr source molar ratio of 0.05 (deposition temperature of 1180 K). An arrow indicates one of Rh nanoparticle. 二氧化锆的薄膜 ; Fig. 5 (A) SEM image of external surface of the Co/SiO 2 -Z-Sp-Pd; (B) cross-section SEM image of the Co/SiO 2 -Z-Sp-Pd with the intensity of Pd, Si and Al X-ray signals from the EDS line scan; (C) external surface EDS analysis result of the Co/SiO 2 -Z-Sp... 二氧化硅薄膜; Fig. 1 Section of the Ca–Mg–Zn phase diagram, according to Ref. ce:cross-ref refid=b0215 [43]/ce:cross-ref . Compositions reported by Senkov an

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