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康志华2015年11月7日;培训课堂纪律;;;SPC的产生;SPC的作用;SPC --Statistical Process Control (统计过程控制)
Statistical 统计:
1、从所有同类项目(总体)中抽取一些项目(样本)。
2、计算集中趋势特征,如算术平均数、中位数和众数,以及离散特征,如极差、方差和标准差。
3、对于总体分布,通过对抽样分布做假定,便可提供对总体采取措施的基础。;过程(Process):是指生产产品/服务的一系列行动或操作,也指支持产品/服务的过程如设计、采购、生产、检验、包装及出货等.
控制(Control)
通过过程控制成功地控制产品/服务,控制是指通过经预先设计的实验及采用统计技巧成功地:
1)进行过程控制;
2)维持或改善控制,目标是使品质维持不变.
把统计、过程及控制三个名词的英文字头起来就是SPC.;SPC就是利用统计方法去:
1、分析过程的输出并指出其特性.
2、使过程在统计控制情况下成功地实施和维持.
3、有系统地减少该过程主要输出特性的变异.
SPC是以预防代替检验,制造业与其他行业一样,预防发生错误永远比事后矫正为好,而且简单得多.;;章节名;;SPC常用术语解释;名称;;普通原因:是指过程在受控的状态下,出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时,过程的输出才可以预测。
特殊原因:通常也叫可查明原因。是指造成不是始终作用于过 程的变差的原因,即当它们出现时将造成(整个)过程的分布改变。只用特殊原因被查出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。;SPC基本观念-普通原因;SPC基本观念-特殊原因; 每件产品的尺寸与别的都不同
范围 范围 范围 范围
但它们形成一个模型,若稳定,可以描述为一个分布
范围 范围 范围
分布可以通过以下因素来加以区分
位置 分布宽度 形状
或这些因素的组合
;规格界限与控制界限;;管制图类型;控制图的选择方法;接上页;分析用控制图控制用控制图;设定控制界限;计量型数据控制图;使用控制图的准备;4、确定测量系统
a 规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。
b 确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。
5、使不必要的变差最小
a 确保过程按预定的方式运行
b 确保输入的材料符合要求
c恒定的控制设定值
注:应在过程记录表上记录所有的相关事件,如:刀具更新,新的材料批次等,有利于下一步的过程分析。;X-R控制图示;二、X-R控制图操作程序 ;(7)样本容量/频率:抽样测量数据的数量/抽样频次,如5件/每小时,2次/每日等
(8)产品型号:受控产品的型号 228/252
(9)测量工具:抽样测量质量或过程特性数据的测量工具,如千分尺、数显卡尺、卷尺等
(10)设备编号:受控工序操作的设备编号;2、收集数据合理的子组大小、频率和数据
在控制时段内,按抽样容量/频率要求,收集产品工序质量或过程特性数据150个,然后根据抽样时间段连续性,将数据分成30个子组,每个子组由4-5数据组成,每个子组数据是在非常相似的生产条件下生产出来的,并且相互之间不存在着系统的关系,因此,每组之间的变差为普通原因造成的,对于所有的子组的样品应保持恒定。
频率:在过程的初期研究中通常是连续进行分组或很短时间间隔进行分组,检查时间间隔内有否不稳定的因素存在。当证明过程处于稳定时,子组间的时间间隔可以增加。 ;. ; 4、计算每个子组的均值(X)和极差(R)
X1+X2+......+Xn
X = —————————————
n
R=X最大值-X最小值
式中:X1、X2......Xn为子组内的每个测量值,n为子组样本容量。 ;;6、 将均值和极差画到控制图上;UCLX= X+A2R X均值上限
LCL X= X-A2R X 均值下限
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