第三节pn结-U-I推导(2学时).pptxVIP

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第三节pn结-U-I推导(2学时)

2.3 Pn结----UI推导;(3)不考虑耗尽层中载流子产生和复合,因此电子和空穴电流在流过耗尽层过程中保持不变。;P;由假设(3)得:流过 的空穴流与流过 的空穴流一样;流过 的电子流与流过 的电子流一样;;处有电子增加,量为;P区:; 根据假设(4),外加正向电压 U后,pn结处于非平衡态,耗尽层两边边界处载流子浓度分布仍服从玻耳兹曼分布。;同理N区边界处空穴浓度与外加电压的关系:;非平衡态下耗尽层边界处载流子浓度增量:; 以N区空穴为例,设单位时间单位体积复合掉的非平衡载流子数为 ,它与载流子浓度成正比。;它反映非平衡少数载流子因复合消失的快慢。其大小直接影响半导体器件的性能。;(2)少子的扩散;目标:求分布,即少子随x的分布;假设N型区足够长,则;P;(4)扩散电流(平移纵坐标);同理得P区少子电子在 处的电子扩散电流:;四、PN结的总电流;上式即为pn结理想U-I特性方程,对于一确定PN结, 为一确定值。

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