海宁晶科电池质量部;一: El的目的及定义
二: EL主要能测出那几大不良
三:关于隐裂、黑心、断栅 等不良的分析;1、EL
目的:为了使组件产品质量满足质量要求
定义:EL:电致发光(electroluminescent)
,是指电流通过物质时或物质处于强电场下
发光的现象。
;1、 隐裂
2、 黑芯片
3、 暗片
4、 断栅
5、 破片
6、 低效片
7、 污垢片
8、 过刻
9、 正负极接反等
;1、隐裂可能会导致热斑效应,特别注意单晶电池片隐裂,单晶电池片隐裂会沿着晶界方向延伸,延伸轻则造成热斑重则造成电池片一块失效区。
注:隐裂会不会导致热斑效应与电池片栅线的分布、隐裂的方向有关系。
2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。
3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。
4、电池片的隐裂会在机械载荷下扩大,有可能会导致开路性的破损。
5、长???超过1mm的隐裂将不能承受2400PA的压力
注:下页幻灯片为单多晶隐裂图片。
;图一;1、黑芯片会造成热击穿。
2、黑芯片会影响功率测试的曲线台阶。
3、黑芯片会影响组件功率。
注:EL发现黑芯片必须
返工处理。
;图三;1、暗片可能会导致热斑效应。
2、严重暗片会影响功率和功
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