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  • 2016-07-26 发布于湖北
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2014年贵州大学半导体器件物理复习题

 PAGE \* MERGEFORMAT 10 2014年贵州大学半导体器件物理复习题 画出n型和p型硅衬底上理想的金属-半导体接触(理想金属-半导体接触的含义:金属-半导体界面无界面态,不考虑镜像电荷的作用)的能带图,(a) ?m ?s, (b) ?m ?s. 分别指出该接触是欧姆接触还是整流接触? (要求画出接触前和接触后的能带图) 理想金属--n硅半导体接触前的能带图(??m ?s) 理想金属--n硅半导体接触平衡态能带图(?m ?s) 理想金属--p硅半导体接触平衡态能带图(??m ?s ) 理想金属--p硅半导体接触平衡态能带图(?m ?s) 画出Al-SiO2-p型Si衬底组成的MOS结构平衡态的能带图,说明半导体表面状态。Al的电子亲和势?=4.1eV,Si的电子亲和势?=4.05eV。假定栅极-氧化层-衬底无界面态,氧化层为理想的绝缘层。 半导体表面处于耗尽或反型状态。 重掺杂的p+多晶硅栅极-二氧化硅-n型半导体衬底形成的MOS结构,画出MOS结构在平衡态的能带图,说明半导体表面状态。假定栅极-氧化层-衬底无界面态,氧化层为理想的绝缘层。 4. 重掺杂的n+多晶硅栅极-二氧化硅-p型半导体衬底形成的MOS结构,画出MOS结构在平衡态的能带图,说明半导体表面状态。假定栅极-氧化层-衬

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