结构静载试验-第3节应变测试技术.ppt

三、应变测试技术 为什么要进行结构应变测试 在外力作用下，工程结构内部产生应力，不同部位的应力值是评定结构工作状态的重要指标，也是建立结构理论的重要依据。 但是，目前直接测定构件截面的应力值还没有较好的方法，一般方法是先测定应变，而后通过σ Eε的关系间接测定应力，或由已知的σ-ε关系曲线查得应力。 应变量测在工程结构试验量测中有极其重要的地位。应变量测往往还是其他物理量量测的基础。 怎样进行结构应变测试 1、应变的测量原理： 量测应变通常是在预定的标准长度范围 称“标距” L内进行。量测长度变化增量的平均值ΔL,由应变的定义式ε ΔL/L 求得ε ，这就是应变量测的基本原理。所以，应变的量测实质上是量测标距L的变化增量ΔL。 2、常用方法： 应变量测方法很多，主要有电测法、机测法和光测法等。 （二）电测法 电测法（非电量的电测技术） 在测量过程中，常将某些物理量（如长度）发生的变化，先变换为电参量的变化，然后用量电器进行量测，这种方法称为电测法。 在结构试验中，因结构受外荷载或受温度及约束等原因而产生应变，应变为机械量（即非电量），用量电器量测非电量，首先必须把非电量（应变）转换成电量的变化，然后才能用量电器量测。量测由应变引起的电量变化称为应变电测法。 利用材料的电阻变化测量应变——电阻应变电测法 电测法以电阻应变仪量测为主。 电测法的基本原理是；将一种特制的电阻应变片作为传感元件，牢靠地粘贴在被测试件表面，当试件由于受到外荷载的作用而发生变形时，电阻应变片也随之变形，并发生电阻的变化。在一定的工作范围内，电阻应变片的电阻变化与试件发生的应变成比例关系。根据测得的电阻变化，通过应变仪可获得试件上被测点的应变值。 金属丝的电阻应变原理 1.受力前的金属丝 2.受力后的金属丝 2、电阻应变片的构造 敏感栅：用金属材料或半导体材料制成的单丝或栅状丝。 基底:纸基和胶基 覆盖层 引出线 敏感栅：用金属材料或半导体材料制成的单丝或栅状丝。敏感栅的形状与尺寸直接影响到应变片的性能。栅长和栅宽代表应变片的标称尺寸，即规格。 基底和覆盖层：它们起定位和保护电阻丝的作用，并使电阻丝和被测试件之间绝缘。基底的尺寸通常代表应变片的外形尺寸。 引出线：通过测量导线接入应变测量桥。引出线一般都采用镀银、镀锡或镀合金的软铜线制成，在制造应变片时与电阻丝焊接在一起 3、电阻应变片的种类及分类 按敏感栅所用材料分类：金属电阻应变片（金属丝式应变片、箔式应变片、薄膜应变片）和半导体应变片； 按敏感栅结构的形状分类： 单轴和多轴（应变花） 按应变片的工作温度： 低温片（低于-30℃）、常温片（-30～60℃） 中温片（60～350℃）、高温片（350℃以上） 按基底材料：胶基和纸基 ③ 薄膜式应变片：800-1000℃ 材料： 厚度≤0.1μm的金属薄膜， 工艺：真空电镀和沉积等工艺，将金属材料在绝缘基底上制成一定形状的薄膜而形成敏感栅。 特点：耐高温性好，工作温度可达800-1000℃，用于高温等特殊条件 6、电阻应变片的优点与缺点 ①在一定工作范围内，电阻变化率与应变成线性关系 严格说是非线性很小 ； ②灵敏度高,普通电阻应变片的最小读数为1-5με,半导体应变片的最小读数可达0.1με，灵敏度高； ③一般电阻应变片测量范围达±20000με，特制的大应变量电阻应变片可测应变达200000με 测量范围广； ④尺寸小、重量轻，把电阻应变片贴在结构表而后对试件的工作状态和应力分布影响极微； ⑤频率响应好，普通应变片的频响时间约为10-7S，半导体应变片可达10-11S，从而可以不考虑应变传递时的相位差，能够适应数万赫兹的动应变测量； ⑥测量自动化程度高，可远距离传送电信号； ⑦对环境的适应性强，若对电阻应变片采取特殊措施，可用于高温、低温、水下压、强磁场和腐蚀等环境； 电阻应变片在应用中的主要缺点是： ①因为电阻应变片是选点布置的，故测量结果仅给出测点贴片方向的应变，难以得到应变和应力场的全貌； ②通常电阻应变片只适于结构表面应力的测量，并且测量值只是电阻应变片基长内的平均应变值； ③连续长时间测量会出现漂移，原因在于粘合剂的不稳定性和对周围环境的敏感性所造成； ④另外应变片必须牢固地粘贴在试件表面，才能保证正确地传递试件的变形，粘贴工作技术性强，粘贴工艺复杂，工作量大； ⑤电阻应变片不能重复使用。 3.2 电阻应变仪测量应变 1、电阻应变仪介绍 试验构件的应变值一般均很小，当材料处于弹性阶段时应变约为10-6—10-2，故应变片的电阻变化率很小,需用专门仪器进行测量,测量应变片的电阻变化率并能自动转化为应变的仪器称为电阻应变仪。 电阻应变仪按频率响应范围可分为: 静态电阻应变仪; 静动态电阻应变仪; 动