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上海宏测半导体科技有限公司 MacroTest Semiconductor, Inc. ;加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 ; void __stdcall FVMI_fun() { double adresult[10];//定义数组adresult[10] OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceV,1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);//给“Bin”脚施加1V电压，电压档位为2V，电流档位为5mA，电流范围限制为-5~5mA OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_I,10,10,FALSE);//在“Bin”脚采样，采样次数为10，采样间隔为10，不开启Digitizer功能 delay(5);//延时5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureI,adresult,OVI_2V,OVI_5mA);//在“Bin”脚测量电流，结果存到adresult数组中，电压档位为2V，电流档位为5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);//关闭“Bin”脚OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FVMV,adresult[0]);//在工位1上将adresult[0]中的数值显示出来，显示名为FVMI } ;加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 ; void __stdcall FIMV_fun() { double adresult[10];//定义数组adresult[10] OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceI,1,OVI_30V,OVI_5mA,-50,50);//给“Bin”脚施加1mA电流，电压档位为30V，电流档位为5mA，电压范围限制为-50~50V OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_V,10,10,FALSE);//在“Bin”脚采样，采样次数为10，采样间隔为10，不开启Digitizer功能 delay(5);//延时5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureV,adresult,OVI_30V,OVI_5mA);//在“Bin”脚测量电压，结果存到adresult数组中，电压档位为30V，电流档位为5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);//关闭“Bin”脚OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FIMV,adresult[0]);//在工位1上将adresult[0]中的数值显示出来，显示名为FIMV } ;加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 ; void __stdcall Fosc() { TMU.TMU_SET(Bin,TMU_FREQAN,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);//设定TMU测量模式为测量频率、采样次数为10、timeout时间为1ms、测量档位为100kHz、不用滤波 TMU.TMU_START(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0);//在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置开始触发 TMU.TMU_STOP(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0); //在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置结束触发TMU.TMU_ARM(Bin);//“Bin”脚启动测量 delay(10);//延时10ms TMU.TMU_MTA(Bin,TMU_FREQAN,1);//测量“Bin”脚测试频率数据，测量模式为1 AddTestResult(SITE_1,Fosc,TMU.GetPinResult(Bin));//在工位1上将“Bin”脚中的数值显示出来，显示名为Fosc“ TMU.TMU_SET(“Bin”,TMU_OFF,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);//关闭“Bin”脚TMU通道 };加电压测电流（FVMI） 加电流测电压（FIMV） 测量频率（Fosc） AWG的使用 DCBL的使用 扫描 多级扫描 断电(Poweroff) 良品分BIN 测量漏电流 ; void __stdcall UserInit()//在UserInit()中下载波表文件 { double mcode[4096];//定义数组mcode